[发明专利]一种三维光学测量方孔垂直差的方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种测量方孔垂直差的方法，具体涉及一种三维光学测量方孔垂直差的方法，属于机械领域。

背景技术

拉刀试验件如是一种带有方孔的圆形饼状工件，方孔是由被试拉刀拉动所形成。检测拉刀是否合格是检测方孔的垂直差。垂直差是测量方孔的四个平面A、B、C、D，其中一个平面C相对于相邻两个平面A、B的垂直差。测量垂直差的仪器目前有三坐标测量机、垂直差专用仪器等。三坐标测量机一般用于测量轴承保持架方孔垂直差，轴承垂直差专用仪器一般也用于测量轴承保持架兜孔垂直差。对于拉刀试验件的上的方孔垂直差我单位采用OGP公司生产的三维光学影像仪，该仪器是一台复合式影像测量仪，即具有光学投影测量的功能，也具有探针接触式测量的功能。测量垂直差采用探针进行测量，但存在一个问题，目前测量垂直差采用手动测量，采用手动测量的方法效率低下，对工件定位要求较高，由于人为因素导致每次测量时测力与测量方向不能完全一致，测量重复性很难保证。原有的检测方法是：

1、工件定位。将被测拉刀试验件摆放到玻璃平板中央，选取十字光标，手动反复调整工件的位置，使得拉刀试验件的方孔相邻两边与屏幕中央的十字光标重合，固定工件。

2、平面测量。选取探针测量方式。根据孔的大小目测需要的探针测头是大约多大，选取合适的测头。手动将探针移动到方孔中央，点击测量平面选项，根据测量孔的大小，确定每个平面测点的多少。根据目前测孔的大小可分为4点、5点、6点、8点测量，每一个平面采用手动测量点的方式。

3、测量结果评价。测量完A、B、C、D四个平面后，手动选取其中一个平面，评价其相对相邻两个平面的垂直差。评价完毕后，输出报告，此次测量完毕。一次测量的时间大约需要10分钟左右。

上述测量试拉件方孔垂直差的方法速度慢，且测量精度较低，

发明内容

本发明为解决拉刀试验件垂直差测量定位难，效率低，重复性难保证的问题，进而提出一种三维光学测量方孔垂直差的方法。

本发明为解决上述问题采取的技术方案是：本发明的具体步骤为：

步骤一、光学模式工件定位；

步骤二、光学模式建立工件坐标系；

步骤三、光学模式与探针模式切换：切换到探针模式；点击System图标，点击Change Sensor图标，选择Get Stylus，标准配置为1mm探针故选取1mm探针，将其安装到测头装置上；此时屏幕会出现一个探针的图像，代表切换成功；

步骤四、测量试验件的A、B、C、D四个平面；

步骤五、垂直差评价：选择评价模式，点击垂直差评价图标，选取被评价要素，将评价结果保存并生成TXT文件；最后将完成的测量及评价程序保存；

步骤六、光学引导探针实现自动测量。

本发明的有益效果是：1、本发明测完一个工件仅需要3分钟。较之前测量时间缩短了6分钟左右，效率提高很大。每次测量重复性较好，测量稳定性、准确度也大大提高；2、从表1和表2的对比中可以看出采用测量方法的测得值离散程度较低，测值较稳定，能够满足实际测量需要。此外，用这种方法测量拉刀试验件的垂直差方法，测量效率较原有测量方法提高3倍，具有效率高、准确率高等优点，便于批量测量此类型拉刀试验件。

附图说明

图1是工件定位示意图；

图2是建立工件坐标系示意图；

图3是测量工件平面示意图。

具体实施方式

具体实施方式一：结合图1至图3说明本实施方式，本实施方式所述一种三维光学测量方孔垂直差的方法是通过如下步骤实现的：

步骤一、光学模式工件定位；

步骤二、光学模式建立工件坐标系；

步骤三、光学模式与探针模式切换：切换到探针模式；点击System图标，点击Change Sensor图标，选择Get Stylus，标准配置为1mm探针故选取1mm探针，将其安装到测头装置上；此时屏幕会出现一个探针的图像，代表切换成功；

步骤四、测量试验件的A、B、C、D四个平面；

步骤五、垂直差评价：选择评价模式，点击垂直差评价图标，选取被评价要素，将评价结果保存并生成TXT文件；最后将完成的测量及评价程序保存；

步骤六、光学引导探针实现自动测量。

本实施方式所使用的软件是：OGP公司的MeasureMind 3D Multisensor软件。