[发明专利]测量系统、方法及装置、可读存储介质

权利要求书

1.一种测量系统，其特征在于，用于测量待测结构上的高度尺寸，所述待测结构包括水平底板及与所述水平底板连接的垂直侧板，所述垂直侧板的内侧壁上设有待测点，所述待测点在水平方向上不超出所述垂直侧板的内侧壁；

所述测量系统包括测量仪和反射器，所述反射器包括可朝向于所述垂直侧板设置的反射面，所述反射面用于将从所述待测点水平发出的入射光线垂直反射至所述测量仪的探头，所述测量系统能够测量所述垂直侧板壁上任意一点至基准面的高度，所述基准面由所述测量仪默认或者由用户进行预定义；

所述测量仪对焦捕捉所述待测点在所述反射面上的对应入射点，以获取所述入射点至所述基准面的高度作为所述待测点至所述基准面的高度，以将所述待测点至所述基准面的高度与所述垂直侧板的顶面至所述基准面的高度之差，作为所述待测点至所述垂直侧板的顶面的高度。

2.根据权利要求1所述的测量系统，其特征在于，所述垂直侧板的内侧壁上设有凹槽，所述凹槽的顶面垂直于所述垂直侧板、或者与所述垂直侧板成钝角设置，所述待测点位于所述顶面的内侧边沿处。

3.根据权利要求1所述的测量系统，其特征在于，所述反射器还包括水平支撑面，所述反射器可通过所述水平支撑面放置于所述水平底板上；其中，所述水平支撑面与所述反射面成45°夹角。

4.根据权利要求3所述的测量系统，其特征在于，所述反射器包括等腰直角三棱镜，所述等腰直角三棱镜的底面为所述水平支撑面。

5.根据权利要求3所述的测量系统，其特征在于，所述反射器包括等腰直角三棱镜，所述等腰直角三棱镜的底面为所述反射面。

6.一种测量方法，其特征在于，应用于如权利要求1至5中任一项所述的测量系统，所述测量系统能够测量所述垂直侧板壁上任意一点至基准面的高度，所述基准面由所述测量仪默认或者由用户进行预定义，所述待测结构包括电子设备的背板结构，所述水平底板包括所述背板结构的外壳底板，所述垂直侧板包括所述背板结构的外壳侧壁；所述测量方法包括：

获取所述外壳侧壁的顶面至所述基准面的高度；

平移所述测量仪至预设位置，以使所述探头可对焦捕捉到所述待测点在所述反射器上的对应入射点；

获取所述对应入射点至所述基准面的高度，以作为所述待测点至所述基准面的高度；

将所述待测点至所述基准面的高度与所述外壳侧壁的顶面至所述基准面的高度之差，作为所述待测点至所述外壳侧壁的顶面的高度。

7.根据权利要求6所述的测量方法，其特征在于，所述获取所述外壳侧壁的顶面至所述基准面的高度，包括：

捕捉位于所述外壳侧壁的顶面的任意一个探测点；

获取所述任意一个探测点至所述基准面的高度，以作为所述外壳侧壁的顶面至所述基准面的高度。

8.根据权利要求6所述的测量方法，其特征在于，所述获取所述外壳侧壁的顶面至所述基准面的高度，包括：

捕捉所述外壳侧壁的顶面在所述反射面上的对应入射点；

获取所述对应入射点至所述基准面的高度，以作为所述外壳侧壁的顶面至所述基准面的高度。

9.一种测量装置，其特征在于，应用于如权利要求1至5中任一项所述的测量系统，所述测量系统能够测量所述垂直侧板壁上任意一点至基准面的高度，所述基准面由所述测量仪默认或者由用户进行预定义，所述待测结构包括电子设备的背板结构，所述背板结构包括外壳底板及与所述外壳底板连接的外壳侧壁，所述测量装置包括：

第一获取模块：获取所述外壳侧壁的顶面至所述基准面的高度；

平移模块：平移所述测量仪至预设位置，以使所述探头可对焦捕捉到待测点在所述反射器上的对应入射点，所述待测点位于所述外壳侧壁上，且在水平方向上不超出所述外壳侧壁的内壁；

第二获取模块：获取所述对应入射点至所述基准面的高度，以作为所述待测点至所述基准面的高度；

计算模块：将所述待测点至所述基准面的高度与所述外壳侧壁的顶面至所述基准面的高度之差，作为所述待测点至所述外壳侧壁的顶面的高度。