[发明专利]双通道TIADC系统失配误差盲校正方法有效
申请号: | 201710302679.3 | 申请日: | 2017-05-03 |
公开(公告)号: | CN107124183B | 公开(公告)日: | 2020-07-03 |
发明(设计)人: | 白旭;胡辉;李万军;张兴强 | 申请(专利权)人: | 北华航天工业学院 |
主分类号: | H03M1/10 | 分类号: | H03M1/10 |
代理公司: | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人: | 汤东凤 |
地址: | 065000 河北省廊坊市广阳区爱民东*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 双通道 tiadc 系统 失配 误差 校正 方法 | ||
1.一种双通道TIADC系统失配误差盲校正方法,其特征在于:所述双通道TIADC系统中通道0作为参考通道,通道1作为测量通道;所述双通道TIADC系统中输入的被测信号X(t)为宽平稳随机过程;包括以下步骤:
步骤1:获取各通道的采样数据:分别获取通道0和通道1的采样数据X0(k)和X1(k),并求通道0和通道1的采样数据的均值和均方值E[X0(k)]、E[X1(k)]、通道0和通道1的采样数据X0(k)和X1(k)表示为:
其中,Δt1为所述系统的失配时间,|Δt1|≤0.1;g1为通道1的增益误差,o1为通道1的偏置误差;计算方法为:
步骤2:校准通道1的数据:用通道1的增益误差g1和偏置误差o1校准通道1的采样数据,获得通道1的第一次校准数据
步骤3:计算通道0采样数据X0(k)和通道1的第一次校准数据的互相关函数
步骤4:计算通道0的采样数据与各分数延迟滤波器输出数据的互相关函数:将通道0的采样数据X0(k)送入具有n个分数延迟滤波器的分数延迟滤波器组,计算通道0各分数延迟滤波器输出数据和通道0的采样数据的互相关函数Rx0(Δxi),i∈[1,n];第i个分数延迟滤波器的延迟Δxi为:
步骤5:建立函数关系:以通道0各分数延迟滤波器输出数据和通道0的采样数据的互相关函数Rx0(Δxi)为自变量x,以各分数延迟滤波器的延迟Δxi为因变量y,建立函数关系;
步骤6:估计失配时间:使用步骤5中建立的函数关系估计所述系统的失配时间Δt1;
步骤7:滤波失配时间:使用分数延时滤波器对步骤6中估计的时间相位误差进行Δt1延时滤波处理。
2.根据权利要求1所述的双通道TIADC系统失配误差盲校正方法,其特征在于:步骤5中使用多项式回归法建立所述函数关系:
y=a0+a1x+a2x2. (6)
其中的系数a0,a1,a2的计算方法为:
其中xi=Rx0(Δxi),yi=Δxi,n为分数延时滤波器的个数。
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