[发明专利]双通道TIADC系统失配误差盲校正方法

说明书

本发明公开了一种双通道TIADC系统失配误差盲校正方法，包括获取各通道的采样数据、校准通道1的数据、计算通道0采样数据和通道1的第一次校准数据的互相关函数、计算通道0的采样数据与各分数延迟滤波器输出数据的互相关函数、建立函数关系、估计失配时间、滤波失配时间步骤。本发明采用无需使用闭环回路的方式对系统的三个失配误差进行估计，既无需额外的硬件来实现对误差参数的校准，也不需要额外的校准信号。

技术领域

本发明涉及一种TIADC系统失配误差盲校正方法，尤其涉及一种双通道TIADC系统失配误差盲校正方法，属于通信技术领域。

背景技术

TIADC(并行采样系统)会由于器件的非理想特性，而产生偏置误差、增益误差、时间相位误差。对TIADC(并行采样系统)中三个主要误差的校正技术集中在两个大的方向，即失配误差的非盲估计及校正算法和盲估计及校正算法。失配误差的非盲估计校正算法需要定期对采集系统注入激励信号以获取系统的误差参数，非盲估计及校正算法会影响采集系统工作的实时性。盲估计及校正算法不需要定期对采集系统注入激励信号，在采集系统对被测信号测量的同时完成对系统误差参数的估计及校正。

如图1所示，双通道TIADC中参数g₀,o₀,Δt₀分别为通道0的增益误差、偏置误差、和时间相位误差，参数g₁,o₁,Δt₁分别为通道1的增益误差、偏置误差、和时间相位误差。实际工作中以通道0作为参考通道，需要对通道1的增益误差、偏置误差、和时间相位误差g₁,o₁,Δt₁进行估计并校正,最终使其与通道0的对应参数相等，即g₁＝g₀,o₁＝o₀,及Δt₁＝Δt₀，从而完成对整个系统的失配误差校正。

现有的双通道TIADC盲估及校正方法在三个主要误差的估计过程中大多采取闭环回路的方式进行参数估计。有些失配误差估计及校正方法需要增加额外的硬件以完成对失配误差参数的校正。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种双通道TIADC系统失配误差盲校正方法。

为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案是：

一种双通道TIADC系统失配误差盲校正方法，包括以下步骤：

步骤1：获取各通道的采样数据：分别获取通道0和通道1的采样数据X₀(k)和X₁(k)，并求通道0和通道1的采样数据的均值和均方值E[X₀(k)]、E[X₁(k)]、通道0和通道1的采样数据X₀(k)和X₁(k)表示为：

其中，Δt₁为所述系统的失配时间，|Δt₁|≤0.1；g₁为通道1的增益误差，o₁为通道1的偏置误差；计算方法为：

步骤2：校准通道1的数据：用通道1的增益误差g₁和偏置误差o₁校准通道1的采样数据，获得通道1的第一次校准数据

步骤3：计算通道0采样数据X₀(k)和通道1的第一次校准数据的互相关函数