[发明专利]OLED像素补偿方法、补偿装置及显示装置有效
申请号: | 201710308783.3 | 申请日: | 2017-05-04 |
公开(公告)号: | CN107025884B | 公开(公告)日: | 2019-10-11 |
发明(设计)人: | 徐攀 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | G09G3/3225 | 分类号: | G09G3/3225 |
代理公司: | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人: | 王辉;阚梓瑄 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | oled 像素 补偿 方法 装置 显示装置 | ||
1.一种OLED像素的补偿方法,其特征在于,包括:
对第N行子像素的驱动晶体管进行测试获取第一测试信息;其中,所述第一测试信息包括测试信号电压及对应的输出电流数据;
对第M行子像素的驱动晶体管进行测试获取第二测试信息;其中,所述第二测试信息包括测试信号电压及对应的输出电流数据;
根据所述第一测试信息和第二测试信息计算补偿参数;其中,所述补偿参数包括阈值电压以及迁移率;
根据所述补偿参数对第N行及与所述第N行连续的共a行子像素、第M行及与所述第M行连续的共a行子像素进行补偿;
其中,N=an+b,M=an+c,其中,a≥2,0≤b<a,0≤c<a且a、b、c、n均为整数,n指代多个正整数。
2.根据权利要求1所述的OLED像素的补偿方法,其特征在于,其中,N为奇数或偶数,M为奇数或偶数。
3.根据权利要求1所述的OLED像素的补偿方法,其特征在于,对所述驱动晶体管进行测试包括:
通过数据线写入一测试信号至所述驱动晶体管的控制端以导通所述驱动晶体管;
通过所述驱动晶体管输出电流对一测试电容充电;
检测所述测试电容的电压并根据所述测试电容的电压获取所述驱动晶体管的输出电流数据;
其中,所述第一测试信息以及第二测试信息均包括所述测试信号电压及所述输出电流数据。
4.根据权利要求1所述的OLED像素的补偿方法,其特征在于,对所述驱动晶体管进行测试包括:
通过数据线写入一测试信号至所述驱动晶体管的控制端以导通所述驱动晶体管;
直接采集所述驱动晶体管的输出电流数据;
其中,所述第一测试信息以及第二测试信息均包括所述测试信号电压及所述输出电流数据。
5.根据权利要求1所述的OLED像素的补偿方法,其特征在于,根据所述第一测试信息和第二测试信息计算补偿参数包括:
根据下式计算包括所述补偿参数:
I1=K*u(Vgs1-Vth)2
I2=K*u(Vgs2-Vth)2
其中,I1为所述第一测试信息中输出电流数据,I2为所述第二测试信息中输出电流数据,Vgs1为所述第一测试信息中测试信号电压,Vgs2为所述第二测试信息中测试信号电压,u为所述迁移率,Vth为所述阈值电压;K为常量。
6.根据权利要求1所述的OLED像素的补偿方法,其特征在于,其中,在各帧的数据空白时间内对所述驱动晶体管进行测试。
7.一种OLED像素补偿装置,其特征在于,包括:
第一测试信息获取模块,用于对第N行子像素的驱动晶体管进行测试获取第一测试信息;其中,所述第一测试信息包括测试信号电压及对应的输出电流数据;
第二测试信息获取模块,用于对第M行子像素的驱动晶体管进行测试获取第二测试信息;其中,所述第二测试信息包括测试信号电压及对应的输出电流数据;
补偿参数获取模块,用于根据所述第一测试信息和第二测试信息计算补偿参数;其中,所述补偿参数包括阈值电压以及迁移率;
像素补偿模块,用于根据所述补偿参数对所有行所述子像素进行补偿;
其中,N=an+b,M=an+c,其中,a≥2,0≤b<a,0≤c<a且a、b、c、n均为整数。
8.一种显示装置,其特征在于,包括权利要求7所述的OLED像素补偿装置。
9.根据权利要求8所述的显示装置,其特征在于,还包括:
显示面板,包括阵列排布的子像素以及与各所述子像素连接的扫描线以及数据线;
源极驱动器,与所述OLED像素补偿装置连接,用于生成原始数据信号并经由所述OLED像素补偿装置补偿后输出至各所述数据线;
栅极驱动器,与所述扫描线连接,用于生成扫描信号并输出至所述显示面板的扫描线。
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