[发明专利]OLED像素补偿方法、补偿装置及显示装置

说明书

本公开涉及显示技术领域，具体涉及一种OLED像素的补偿方法、一种OLED像素的补偿装置以及一种显示装置。所述补偿方法包括：对第N行子像素的驱动晶体管进行测试获取第一测试信息；对第M行子像素的驱动晶体管进行测试获取第二测试信息；根据所述第一测试信息和第二测试信息计算补偿参数；根据所述补偿参数对第N行、第M行及与所述第N行、第M行连续的共a行子像素进行补偿；其中，N＝an+b，M＝an+c，其中，a≥2，0≤b<a，0≤c<a且a、b、c、n均为整数。本公开通过缩短补偿数据的更新周期，有效实现对亮度的实时补偿，从而提升补偿效果。

技术领域

本公开涉及显示技术领域，具体涉及一种OLED像素的补偿方法、一种OLED像素的补偿装置以及一种显示装置。

背景技术

OLED(Organic Light Emitting Diode，有机发光二极管)作为一种电流型发光器件，具有自发光、快速响应、宽视角、以及可制作于柔性衬底等优点而被广泛的应用于高性能显示领域。按照驱动方式，OLED可分为PMOLED(Passive Matrix Driving OLED，无源矩阵驱动有机发光二极管)和AMOLED(Active Matrix Driving OLED，有源矩阵驱动有机发光二极管)。AMOLED显示器具有低制造成本、高应答速度、省电、可用于便携式设备的直流驱动、工作温度范围大等优点而有望成为取代LCD(Liquid Crystal Display，液晶显示器)的下一代平面显示器。

在现有的大尺寸AMOLED TV中，屏幕的亮度均匀性问题是产品开发的一大困难；目前提高亮度均匀性的技术有电学补偿和光学补偿，而电学补偿包括内部补偿和外部补偿技术。由于工艺技术的成熟度不高，目前大尺寸OLED产品的电学补偿主要是外部补偿。现有外部补偿方法为对显示面板的子像素进行逐行扫描，在新的I-V模型建立前，子像素仍使用原来的参数进行补偿。因此在新的I-V模型成立之前，若TFT特性发生变化，而补偿参数仍是根据原有的I-V模型产生的，则显示面板的亮度补偿容易产生较大误差。

需要说明的是，在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

本公开的目的在于提供一种OLED像素的补偿方法，一种OLED像素补偿装置，以及包括上述OLED像素补偿装置的显示装置，进而至少在一定程度上克服由于相关技术的限制和缺陷而导致的一个或者多个问题。

本公开的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本公开的实践而习得。

根据本公开的第一方面，提供一种OLED像素的补偿方法，包括：

对第N行子像素的驱动晶体管进行测试获取第一测试信息；

对第M行子像素的驱动晶体管进行测试获取第二测试信息；

根据所述第一测试信息和第二测试信息计算补偿参数；

根据所述补偿参数对第N行、第M行及与所述第N行、第M行连续的共a行子像素进行补偿；

其中，N＝an+b，M＝an+c，其中，a≥2，0≤b<a，0≤c<a且a、b、c、n均为整数。

在本公开的一种示例性实施例中，其中，N为奇数或偶数，M为奇数或偶数。

在本公开的一种示例性实施例中，对所述驱动晶体管进行测试包括：

通过数据线写入一测试信号至所述驱动晶体管的控制端以导通所述驱动晶体管；

通过所述驱动晶体管输出电流对一测试电容充电；

检测所述测试电容的电压并根据所述测试电容的电压获取所述驱动晶体管的输出电流数据；