[发明专利]双连接下测量间隙的配置方法及系统

权利要求书

1.一种双连接下测量间隙的配置方法，UE与第一基站和第二基站进行双连接，第一基站和第二基站中的一个为主基站，另一个为辅基站，其特征在于，所述方法包括：

第一基站为UE配置第一测量间隙，所述第一测量间隙包括第一周期、第一偏移值和第一时长；

第二基站为UE配置第二测量间隙，其中，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠，所述第二测量间隙包括第二周期、第二偏移值和第二时长；

所述第一周期T1＝2^(m1-1)T0，所述第一偏移值为G1，所述第一时长为W1；所述第二周期T2＝2^(m2-1)T0，所述第二偏移值为G2，所述第二时长为W2；其中，T0为基本周期，m1和m2为正整数，G1为小于T1的非负整数，G2为小于T2的非负整数，W1为小于T1的正整数，W2为小于T2的正整数。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，当T1＝T2时，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠包括：所述第二测量间隙满足G2＝G1-W2，或者G2＝G1+W1且G2＝G1+T1-W2。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，当T1T2时，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠包括：所述第二测量间隙满足G2＝G1-W2，或者G2＝G1+W1+(n-1)*T1且G2＝G1+n*T1-W2，n为不大于N1的正整数，N1＝T2/T1。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，当T1T2时，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠包括：所述第二测量间隙满足G2＝G1-W2-(n-1)*T2，或者G2＝G1+W1-(n-1)*T2且G2＝G1+T1-W2-(n-1)*T2，n为不大于N2的正整数，N2＝T1/T2。

5.一种双连接下测量间隙的配置系统，其特征在于：所述系统包括第一基站和第二基站，所述第一基站和第二基站中的一个为主基站，另一个为辅基站，UE与所述第一基站和第二基站进行双连接，其中，

所述第一基站，用于为UE配置第一测量间隙，所述第一测量间隙包括第一周期、第一偏移值和第一时长；

所述第二基站，用于为UE配置第二测量间隙，其中，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠，所述第二测量间隙包括第二周期、第二偏移值和第二时长；

所述第一周期T1＝2^(m1-1)T0，所述第一偏移值为G1，所述第一时长为W1；所述第二周期T2＝2^(m2-1)T0，所述第二偏移值为G2，所述第二时长为W2；其中，T0为基本周期，m1和m2为正整数，G1为小于T1的非负整数，G2为小于T2的非负整数，W1为小于T1的正整数，W2为小于T2的正整数。

6.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，当T1＝T2时，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠包括：所述第二测量间隙满足G2＝G1-W2，或者G2＝G1+W1且G2＝G1+T1-W2。

7.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，当T1T2时，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠包括：所述第二测量间隙满足G2＝G1-W2，或者G2＝G1+W1+(n-1)*T1且G2＝G1+n*T1-W2，n为不大于N1的正整数，N1＝T2/T1。

8.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，当T1T2时，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠包括：所述第二测量间隙满足G2＝G1-W2-(n-1)*T2，或者G2＝G1+W1-(n-1)*T2且G2＝G1+T1-W2-(n-1)*T2，n为不大于N2的正整数，N2＝T1/T2。