[发明专利]双连接下测量间隙的配置方法及系统有效
申请号: | 201710313287.7 | 申请日: | 2017-05-05 |
公开(公告)号: | CN108810929B | 公开(公告)日: | 2021-03-19 |
发明(设计)人: | 田文强;顾祥新 | 申请(专利权)人: | 北京紫光展锐通信技术有限公司 |
主分类号: | H04W24/02 | 分类号: | H04W24/02 |
代理公司: | 北京兰亭信通知识产权代理有限公司 11667 | 代理人: | 赵永刚 |
地址: | 100191 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 双连 接下 测量 间隙 配置 方法 系统 | ||
本发明提供一种双连接下测量间隙的配置方法及系统。UE与第一基站和第二基站进行双连接,第一基站和第二基站中的一个为主基站,另一个为辅基站,所述方法包括:第一基站为UE配置第一测量间隙,所述第一测量间隙包括第一周期、第一偏移值和第一时长;第二基站为UE配置第二测量间隙,其中,所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠,所述第二测量间隙包括第二周期、第二偏移值和第二时长。本发明能够避免UE在同一时刻与主基站和辅基站同时中断上下行数据传输。
技术领域
本发明涉及无线通信技术领域,尤其涉及一种双连接下测量间隙的配置方法及系统。
背景技术
在LTE系统的测量间隙配置中,UE按照如下公式配置测量间隙:
SFN mod T=FLOOR(gapOffset/10);
subframe=gapOffset mod 10;
T=MGRP/10;
其中,SFN是系统帧号,subframe是子帧号,在满足上述公式的SFN和subframe上UE被配置测量间隙。
基站通过为UE配置MGRP(Measurement Gap Repetition Period,测量间隙重复周期)来指示测量间隙周期,比如每40ms或者每80ms有一次测量间隙。基站通过为UE配置gapOffset来指示测量间隙位置,包括对应的系统帧号和子帧。基站通过为UE配置MGL(Measurement Gap Length,测量间隙长度)来指示一次测量间隙时长,比如6ms。
目前,在LTE-NR双连接的场景下,例如LTE基站为主基站、NR基站为辅基站。主基站可以为UE配置测量间隙,辅基站侧也可以为UE配置测量间隙。从而,一种可以预期的情况是:当主基站需要为UE配置异频测量或者异系统测量时,主基站可以为UE配置一种测量间隙,在该测量间隙期间UE会中断与主基站服务小区的通信;当辅基站需要为UE配置异频测量或者异系统测量时,辅基站也可以为UE配置一种测量间隙,在该测量间隙期间UE会中断与辅基站服务小区的通信。当主基站和辅基站为UE分别配置上述两种测量间隙时,可能会产生上述两种测量间隙在时间上重叠或者部分重叠的问题,导致出现UE在同一时刻与主基站和辅基站同时中断上下行数据传输。
发明内容
本发明提供的双连接下测量间隙的配置方法及系统,能够避免UE在同一时刻与主基站和辅基站同时中断上下行数据传输。
第一方面,本发明提供一种双连接下测量间隙的配置方法,UE与第一基站和第二基站进行双连接,第一基站和第二基站中的一个为主基站,另一个为辅基站,所述方法包括:
第一基站为UE配置第一测量间隙,所述第一测量间隙包括第一周期、第一偏移值和第一时长;
第二基站为UE配置第二测量间隙,其中,所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠,所述第二测量间隙包括第二周期、第二偏移值和第二时长。
可选地,所述第一周期T1=2(m1-1)T0,所述第一偏移值为G1,所述第一时长为W1;所述第二周期T2=2(m2-1)T0,所述第二偏移值为G2,所述第二时长为W2;其中,T0为基本周期,m1和m2为正整数,G1为小于T1的非负整数,G2为小于T2的非负整数,W1为小于T1的正整数,W2为小于T2的正整数。
可选地,当T1=T2时,所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠包括:所述第二测量间隙满足G2=G1-W2,或者G2=G1+W1且G2=G1+T1-W2。
可选地,当T1T2时,所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠包括:所述第二测量间隙满足G2=G1-W2,或者G2=G1+W1+(n-1)*T1且G2=G1+n*T1-W2,n为不大于N1的正整数,N1=T2/T1。
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