[发明专利]一种发光面板多功能检测方法及设备

权利要求书

1.一种发光面板多功能检测方法，其特征在于：所述检测方法的实现步骤如下：

(1)根据发光面板需检测像元尺寸确定成像光谱仪、样品台和发光面板位置；

(2)利用标准发光面板和数据进行检测系统标定；

(3)发光面板固定于样品台，并相对于成像光谱仪进行匀速运动，成像光谱仪完成不同位置光谱扫描；

(4)根据获得成像光谱数据获得发光面板不同位置和整体的发光亮度、均匀性和光谱特征信息。

2.根据权利要求1所述的发光面板多功能检测方法，其特征在于：还包括一种发光面板多功能检测设备，所述设备包括发光面板、样品台、成像光谱仪和计算机。

3.根据权利要求2所述的发光面板多功能检测设备，其特征在于：所述发光面板固定于样品台，所述成像光谱仪按照设定轨迹进行运动和推扫，根据获得成像光谱数据获得发光面板不同位置和整体的发光亮度、均匀性和光谱特征信息。

4.根据权利要求1所述的发光面板多功能检测方法，其特征在于：所述步骤(3)中所述成像光谱仪光谱扫描可通过任意形式的光学面板和成像光谱仪相对运动实现，运动轨迹与后续数据拼接一一对应。

5.根据权利要求1所述的发光面板多功能检测方法，其特征在于：所述的发光面板多功能检测方法可用于不同尺寸的发光面板性能测试。

6.根据权利要求1所述的发光面板多功能检测方法，其特征在于：所述成像光谱仪可选的采用多光谱或高光谱仪器。

7.根据权利要求1所述的发光面板多功能检测方法，其特征在于：所述的发光面板多功能检测方法可用于离线抽样检测和在线实时检测。

8.根据权利要求2所述的发光面板多功能检测设备，其特征在于：包括以下操作步骤：

(1)在样品台固定发光面板，发光面板与成像光谱仪镜头方向垂直；

(2)根据发光面板尺寸和空间检测精度，确定成像光谱仪距离发光面板位置20cm；

(3)设置检测设备参数，包括成像光谱仪曝光时间、采集帧频、导轨运动速度、运动方向、运动位移等；

(4)触发成像光谱仪开始数据采集，同时控制导轨，使成像光谱仪水平匀速移动其中移动方向与发光面板保持平行；

(5)将移动扫描时获得的高光谱成像数据进行拼接，并合成伪彩图；

(6)在伪彩图选择待分析区域，获得不同位置处的发光亮度和光谱特点，同时对比输出均匀性信息和平均光谱特征信息。