[发明专利]一种发光面板多功能检测方法及设备

说明书

技术领域

本发明涉及一种光学检测方法，具体涉及一种发光面板多功能检测方法及设备。

背景技术

发光面板现已广泛应用于生活中的各类电子设备，如电视、显示器、手机等，其亮度、均匀性和异常点检测一直是发光面板品质鉴定的关键。以LED面板灯为例，即便总体亮度足够，但如果亮度不均匀，出现暗斑，将导致使用体验大大降低。此外发光面板的波长特性也很大程度上影响着使用者的感受。

当前发光面板亮度检测大多通过拍照或积分球对比等方式实现，光谱特征通过加滤光片后探测获得，现有手段很难实现一次性获得空间分辨的亮度、光谱等信息，不仅增加了检测时间，也增加了检测流程的复杂度。

发明内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本发明提供了一种发光面板多功能检测方法及设备，可同时实现发光面板整体或局部的亮度、均匀性和光谱特征信息检测，解决了当前检测流程复杂和耗时的缺点。

(二)技术方案

为实现以上目的，本发明通过以下技术方案予以实现：

一种发光面板多功能检测方法，其特征在于：所述检测方法的实现步骤如下：

(1)根据发光面板需检测像元尺寸确定成像光谱仪、样品台和发光面板位置；

(2)利用标准发光面板和数据进行检测系统标定；

(3)发光面板固定于样品台，并相对于成像光谱仪进行匀速运动，成像光谱仪完成不同位置光谱扫描；

(4)根据获得成像光谱数据获得发光面板不同位置和整体的发光亮度、均匀性和光谱特征信息。

优选的，还包括一种发光面板多功能检测设备，所述设备包括发光面板、样品台、成像光谱仪和计算机。

优选的，所述发光面板固定于样品台，所述成像光谱仪按照设定轨迹进行运动和推扫，根据获得成像光谱数据获得发光面板不同位置和整体的发光亮度、均匀性和光谱特征信息。

优选的，所述步骤(3)中所述成像光谱仪光谱扫描可通过任意形式的光学面板和成像光谱仪相对运动实现，运动轨迹与后续数据拼接一一对应。

优选的，所述的发光面板多功能检测方法可用于不同尺寸的发光面板性能测试。

优选的，所述成像光谱仪可选的采用多光谱或高光谱仪器。

优选的，所述的发光面板多功能检测方法可用于离线抽样检测和在线实时检测。

优选的，包括以下操作步骤：

(1)在样品台固定发光面板，发光面板与成像光谱仪镜头方向垂直；

(2)根据发光面板尺寸和空间检测精度，确定成像光谱仪距离发光面板位置20cm；

(3)设置检测设备参数，包括成像光谱仪曝光时间、采集帧频、导轨运动速度、运动方向、运动位移等；

(4)触发成像光谱仪开始数据采集，同时控制导轨，使成像光谱仪水平匀速移动其中移动方向与发光面板保持平行；

(5)将移动扫描时获得的高光谱成像数据进行拼接，并合成伪彩图；

(6)在伪彩图选择待分析区域，获得不同位置处的发光亮度和光谱特点，同时对比输出均匀性信息和平均光谱特征信息。

(三)有益效果

本发明与现有技术相比的优点在于：本发明可同时实现发光面板整体或局部的亮度、均匀性和光谱特征信息检测，提高了发光面板性能检测准确性和检测效率。同时本发明可适用于任意尺寸的发光面板检测。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例发光面板多功能检测方法示意图；

图2是本发明实施例发光面板检测设备工作流程示意图；

图中的标号分别代表：

1、样品台；2、发光面板；3、精密导轨；4、成像光谱仪；5、计算机。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

如图1所示的一种发光面板多功能检测方法，检测方法的实现步骤如下：