[发明专利]一种多测量通道机内自检电路设计

权利要求书

1.一种多测量通道机内自检电路设计，在两个前级测量点JC1、JC2和任意两个被检测点Aj、Bj(j＝1，2，3，…，N为整数)之间，串联2个一刀多档(或称一刀多掷)波段开关Ka、Kb，其特征在于：(1)Ka-Mo、Ka-Mp分别和JC1、JC2相连，形成波段开关Ka前的测量通道(JC1至Ka-Mo)和(JC2至Ka-Mp)；(2)Kb-Mo、Kb-Mp分别和Ka-o-v、Ka-p-v相连，形成波段开关Ka、Kb间的测量通道(Ka-o-v至Kb-Mo)和(Ka-p-v至Kb-Mp)；(3)Kb-o-i、Kb-p-i分别和Aj、Bj相连，形成波段开关Kb后的测量通道(Kb-o-i至Aj)和(Kb-p-i至Bj)；(4)在波段开关Ka的第v档位、波段开关Kb的第i档位接通的情况下，两个前级测量点JC1、JC2和任意两个被检测点Aj、Bj连通在一起，形成测量通道(JC1-Aij)和(JC2-Bij)；(5)Ka-o-u和Ka-p-u相连，形成档位间短路连接，在波段开关Ka的第u档位接通的情况下，从JC1、JC2端可检查(JC1至Ka-Mo)和(JC2至Ka-Mp)这2段测量通道的连通状态(通路正常、断路、电路阻抗异常等，下同)；(6)Kb-o-f和Kb-p-f相连，形成档位间短路连接，在波段开关Ka的第v档位、波段开关Kb的第f档位接通的情况下，从JC1、JC2端可检查(JC1至Ka-Mo)、(JC2至Ka-Mp)、(Ka-o-v至Kb-Mo)、(Ka-p-v至Kb-Mp)各段测量通道的连通状态。

2.根据权利要求1所述的一种多测量通道机内自检电路设计，其特征在于：在Ka-o-w和Ka-p-w之间连接有电阻Ry1，可用于校验仪表测量精度；在波段开关Ka的第w档位接通的情况下，从JC1、JC2端可校验仪表测量精度，同时也可检查(JC1至Ka-Mo)和(JC2至Ka-Mp)这2段测量通道的连通状态。

3.根据权利要求1所述的一种多测量通道机内自检电路设计，其特征在于：在Kb-o-h和Kb-p-h之间连接有电阻Ry2，可用于校验仪表测量精度；在波段开关Ka的第v档位、波段开关Kb的第h档位接通的情况下，从JC1、JC2端可校验仪表测量精度，同时也可检查(JC1至Ka-Mo)、(JC2至Ka-Mp)、(Ka-o-v至Kb-Mo)、(Ka-p-v至Kb-Mp)各段测量通道的连通状态。

4.根据权利要求1所述的一种多测量通道机内自检电路设计，其特征在于：另包括连接器(或适配器)SP(x)、SP(y)、SP(z)、SP(m)串联在测量通道(JC1至Ka-Mo)、(JC2至Ka-Mp)、(Ka-o-v至Kb-Mo)、(Ka-p-v至Kb-Mp)中。