[发明专利]一种多测量通道机内自检电路设计

说明书

技术领域

本发明属于信号检测领域，涉及一项测试设备机内自检测技术。

背景技术

采用一刀多档(或称一刀多掷)波段开关可实现测量通道的扩展。在实际使用中，各测量通道出现断路或通路阻抗异常(通常是变大)对测量结果将产生影响。在某一路测量通道是否出现“断路”或“通路阻抗异常”的情况时，往往需要打开测试设备机箱，采用人工测量的方法排查故障点，操作过程繁琐，检测效率低。对于多段电路级联的测量通道，如何通过设备机内自检设计，确定是哪一段的测量通道有问题，及时准确地定位故障点，将有助于设备的快速维修，或及时更换到备用测量通道。另外在测试设备使用过程中，用户非常关注测试设备测量精度是否在指标要求范围内。对于电阻测量功能而言，电阻测量精度不合格，则测试设备测量的结果将不准确，不可信。如果测试设备具备测量精度自校验功能，则可解决该问题。

发明内容

本发明的目的是：提供一种基于波段开关的多测量通道测量信号分配控制、机内分段“自检”和测量精度“自校验”电路设计方法。

本发明通过下述技术方案实现：

1.一种多测量通道机内自检电路设计(见附图1)，在两个前级测量点JC1、JC2和任意两个被检测点Aj、Bj(j＝1，2，3，…，N为整数，下同)之间，串联2个一刀多档波段开关Ka、Kb(a、b为波段开关K的标识号)。其特征在于：

(1)Ka-Mo、Ka-Mp分别和JC1、JC2相连，形成波段开关Ka前的测量通道(JC1至Ka-Mo)和(JC2至Ka-Mp)。Kb-Mo、Kb-Mp分别和Ka-o-v、Ka-p-v相连，形成波段开关Ka、Kb间的测量通道(Ka-o-v至Kb-Mo)和(Ka-p-v至Kb-Mp)。Kb-o-i、Kb-p-i分别和Aj、Bj相连，形成波段开关Kb后的测量通道(Kb-o-i至Aj)和(Kb-p-i至Bj)。在波段开关Ka的第v档位、波段开关Kb的第i档位接通的情况下，两个前级测量点JC1、JC2和任意两个被检测点Aj、Bj连通在一起，形成测量通道(JC1-Aij)和(JC2-Bij)。

(2)Ka-o-u和Ka-p-u相连，形成档位间短路连接。在波段开关Ka的第u档位接通的情况下，从JC1、JC2端可检查(JC1至Ka-Mo)和(JC2至Ka-Mp)这2段测量通道的连通状态(通路正常、断路、电路阻抗异常等，下同)。

(3)Kb-o-f和Kb-p-f相连，形成档位间短路连接。在波段开关Ka的第v档位、波段开关Kb的第f档位接通的情况下，从JC1、JC2端可检查(JC1至Ka-Mo)、(JC2至Ka-Mp)、(Ka-o-v至Kb-Mo)、(Ka-p-v至Kb-Mp)各段测量通道的连通状态。

(4)在上述(2)、(3)同时进行的情况下，可推测出(Ka-o-v至Kb-Mo)、(Ka-p-v至Kb-Mp)这2段测量通道的连通状态。

2.根据1.所述的一种多测量通道机内自检电路设计，其特征在于：在Ka-o-w和Ka-p-w之间连接有电阻Ry1(附图2中)，可用于校验仪表测量精度。在波段开关Ka的第w档位接通的情况下，从JC1、JC2端可校验仪表测量精度，同时也可检查(JC1至Ka-Mo)和(JC2至Ka-Mp)这2段测量通道的连通状态。

3.根据1.所述的一种多测量通道机内自检电路设计，其特征在于：在Kb-o-h和Kb-p-h之间连接有电阻Ry2(附图3中)，可用于校验仪表测量精度。在波段开关Ka的第v档位、波段开关Kb的第h档位接通的情况下，从JC1、JC2端可校验仪表测量精度，同时也可检查(JC1至Ka-Mo)、(JC2至Ka-Mp)、(Ka-o-v至Kb-Mo)、(Ka-p-v至Kb-Mp)各段测量通道的连通状态。

4.根据1.所述的一种多测量通道机内自检电路设计，其特征在于：另包括连接器(或适配器)SP(x)、SP(y)、SP(z)、SP(m)串联在测量通道(JC1至Ka-Mo)、(JC2至Ka-Mp)、(Ka-o-v至Kb-Mo)、(Ka-p-v至Kb-Mp)中，见附图4。

本发明的效果和益处是：

本发明对比已有技术具有以下显著优点：

(1)通过波段开关切换控制实现了多测量通道的选择和分配，而且实现了对JC1、JC2至波段开关Kb之间的(JC1至Ka-Mo)、(JC2至Ka-Mp)、(Ka-o-v至Kb-Mo)、(Ka-p-v至Kb-Mp)各段测量通道的分段机内“自检”功能，提高自检效率并缩小了故障定位的范围。