[发明专利]片材、胶带及半导体装置的制造方法有效
申请号: | 201710325250.6 | 申请日: | 2017-05-10 |
公开(公告)号: | CN107393857B | 公开(公告)日: | 2023-05-09 |
发明(设计)人: | 木村龙一;高本尚英 | 申请(专利权)人: | 日东电工株式会社 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683;H01L21/67;H01L21/304 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;李茂家 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 胶带 半导体 装置 制造 方法 | ||
1.一种片材,其包含:
切割薄膜,其包含基材层及位于所述基材层上的粘合剂层,和
半导体背面保护薄膜,其位于所述粘合剂层上,
所述半导体背面保护薄膜具有1.7kgf/mm2以上的对硅芯片的25℃剪切粘接力,
25℃剪切粘接力是如下值:在70℃下,将所述半导体背面保护薄膜固定于所述硅芯片,在120℃加热2小时,然后在剪切速度500μm/秒、25℃下进行测定而得到的值。
2.根据权利要求1所述的片材,其中,所述半导体背面保护薄膜包含热塑性树脂及热固化性树脂,
所述热塑性树脂含量相对于所述热固化性树脂含量的重量比为1以下。
3.一种胶带,其包含:
剥离衬垫,和
位于所述剥离衬垫上的权利要求1或2所述的片材。
4.一种半导体装置的制造方法,其包括以下工序:
将权利要求1或2所述的片材的所述半导体背面保护薄膜与半导体晶圆贴合在一起的工序,
使所述半导体背面保护薄膜固化的工序,和
对位于固化后的所述半导体背面保护薄膜上的所述半导体晶圆进行切割的工序。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造