[发明专利]一种测量玻璃化学减薄速率的设备和方法

权利要求书

1.一种测量玻璃化学减薄速率的设备，该设备包括恒温水槽(1)、位于恒温水槽(1)中的腐蚀液容器(6)、位于腐蚀液容器(6)上方的玻璃样品固定装置(5)以及与所述恒温水槽(1)相接触的超声波发生源(3)。

2.根据权利要求1所述的设备，其中，所述玻璃样品固定装置(5)设置有多个沿竖直平面设置的玻璃样品固定狭缝，所述玻璃样品固定狭缝位于所述腐蚀液容器(6)正上方。

3.根据权利要求1所述的设备，其中，每个所述玻璃样品固定装置(5)设置有4个以上玻璃样品固定狭缝。

4.根据权利要求1所述的设备，其中，所述玻璃样品固定装置(5)的底部设置有插入腐蚀液容器(6)顶部的环形凹槽。

5.根据权利要求1所述的设备，其中，所述腐蚀液容器(6)的深度大于待检测的玻璃样品的长度的四分之一。

6.根据权利要求1所述的设备，其中，所述设备还包括用于保持恒温水槽(1)水温恒定的恒温水循环装置(7)。

7.根据权利要求6所述的设备，其中，所述恒温水循环装置(7)包括水冷机和水循环机，所述水循环机与所述恒温水槽(1)流体连通，所述水冷机用于冷却水循环机中的水。

8.根据权利要求1所述的设备，其中，所述超声波发生源(3)设置于所述恒温水槽(1)的底部。

9.一种测量玻璃化学减薄速率的方法，该方法包括：

将待测玻璃样品的待减薄部分与腐蚀液接触并在恒温和超声条件下进行化学减薄处理，得到化学减薄玻璃样品；其中，所述待测玻璃样品的待减薄部分的厚度为H1，所述化学减薄玻璃样品的减薄部分的厚度为H2，所述化学减薄处理的时间为h；

采用下式计算玻璃化学减薄速率V：V＝(H1-H2)/h。

10.根据权利要求9所述的方法，其中，所述化学减薄处理的条件包括：所述腐蚀液的温度变化为±2℃，腐蚀液的温度为5-30℃，超声的频率为20-100KHz，化学减薄处理的时间h为10-80分钟。

11.根据权利要求9所述的方法，其中，所述腐蚀液为5-40重量％的氢氟酸水溶液。

12.根据权利要求9所述的方法，其中，所述待测玻璃样品的待减薄部分的厚度H1为0.3-1.2毫米。