[发明专利]一种测量玻璃化学减薄速率的设备和方法

说明书

技术领域

本公开涉及玻璃性能检测技术领域，具体地，涉及一种测量玻璃化学减薄速率的设备和方法。

背景技术

随着平板显示器低功耗、薄外形、轻重量技术的日益发展，平板显示玻璃应用于显示器件厚度要求越来越小，显示玻璃原板化学减薄以其独特的优势占据显示玻璃原板减薄的突出位置，平板玻璃生产企业对自身产品化学减薄性能的检测无论对于监控自身产品性能，还是与竞争产品性能对比都有着异常重要的意义。

通常化学减薄速率的测量在分开密封的小瓶子中，在恒温水浴中震荡减薄后测量，该测量手段所测量的玻璃减薄速率偏差较大。

发明内容

本公开的目的是提供一种测量玻璃化学减薄速率的设备和方法，本公开提供的设备和方法进行测量玻璃化学减薄速率时，稳定性好，偏差小。

为了实现上述目的，本公开提供一种测量玻璃化学减薄速率的设备，该设备包括恒温水槽、位于恒温水槽中的腐蚀液容器、位于腐蚀液容器上方的玻璃样品固定装置以及与所述恒温水槽相接触的超声波发生源。

可选的，所述玻璃样品固定装置设置有多个沿竖直平面设置的玻璃样品固定狭缝，所述玻璃样品固定狭缝位于所述腐蚀液容器正上方。

可选的，每个所述玻璃样品固定装置设置有4个以上玻璃样品固定狭缝。

可选的，所述玻璃样品固定装置的底部设置有插入腐蚀液容器顶部的环形凹槽。

可选的，所述腐蚀液容器的深度大于待检测的玻璃样品的长度的四分之一。

可选的，所述设备还包括用于保持恒温水槽水温恒定的恒温水循环装置。

可选的，所述恒温水循环装置包括水冷机和水循环机，所述水循环机与所述恒温水槽流体连通，所述水冷机用于冷却水循环机中的水。

可选的，所述超声波发生源设置于所述恒温水槽的底部。

本公开还提供一种测量玻璃化学减薄速率的方法，该方法包括：将待测玻璃样品的待减薄部分与腐蚀液接触并在恒温和超声条件下进行化学减薄处理，得到化学减薄玻璃样品；其中，所述待测玻璃样品的待减薄部分的厚度为H1，所述化学减薄玻璃样品的减薄部分的厚度为H2，所述化学减薄处理的时间为h；采用下式计算玻璃化学减薄速率V：V＝(H1-H2)/h。

可选的，所述化学减薄处理的条件包括：所述腐蚀液的温度变化为±2℃，腐蚀液的温度为5-30℃，超声的频率为20-100KHz，化学减薄处理的时间h为10-80分钟。

可选的，所述腐蚀液为5-40重量％的氢氟酸水溶液。

可选的，所述待测玻璃样品的待减薄部分的厚度H1为0.3-1.2毫米。

本公开提供的测量玻璃化学减薄速率的设备和方法可以使玻璃化学减薄速率的测量在恒温和超声条件下进行，能够使玻璃上不溶于腐蚀液的颗粒物同时掉落，从而使检测稳定性好，偏差小。

本公开的其他特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。

附图说明

附图是用来提供对本公开的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本公开，但并不构成对本公开的限制。在附图中：

图1是本公开提供的设备一种具体实施方式的结构示意图。

附图标记说明

1 恒温水槽 2 水 3 超声波发生源

4 玻璃样品 5 玻璃样品固定装置 6 腐蚀液容器

7 恒温水循环装置 8 腐蚀液

具体实施方式

以下结合附图对本公开的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本公开，并不用于限制本公开。

本公开发明人在采用现有测量方法测量玻璃的化学减薄速率时发现，采用同样的条件进行测量，测量偏差较大，从而导致化学减薄速率的测量不够精确。本公开发明人经过大量实验发现，现有方法使用震荡水浴做玻璃减薄处理时，不溶于腐蚀液的玻璃颗粒物不能及时剥离玻璃表面，且该玻璃颗粒物的剥离具有随机性，导致测量结果不能准确地反映化学减薄速率，影响测量结果的平行性、稳定性和精确性。

如图1所示，本公开提供一种测量玻璃化学减薄速率的设备，该设备包括恒温水槽1、位于恒温水槽1中的腐蚀液容器6、位于腐蚀液容器6上方的玻璃样品固定装置5以及与所述恒温水槽1相接触的超声波发生源3。

本公开提供的测量玻璃化学减薄速率的设备能够通过超声波及时地将不溶于腐蚀液的玻璃颗粒物剥离玻璃表面，从而使每次测量结果都具有良好的平行性、稳定性和精确性。