[发明专利]单晶硅的制备方法在审
申请号: | 201710327143.7 | 申请日: | 2017-05-10 |
公开(公告)号: | CN107099842A | 公开(公告)日: | 2017-08-29 |
发明(设计)人: | 王思锋;潘永娥 | 申请(专利权)人: | 宁夏协鑫晶体科技发展有限公司 |
主分类号: | C30B29/06 | 分类号: | C30B29/06;C30B15/00 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 | 代理人: | 王乐 |
地址: | 755099 宁*** | 国省代码: | 宁夏;64 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 单晶硅 制备 方法 | ||
技术领域
本发明涉及单晶硅技术领域,特别是涉及一种单晶硅的制备方法。
背景技术
直拉法是单晶硅的主要生产方法,而石英坩埚是直拉法所必不可少的辅助器具。石英坩埚在拉晶的高温下,具有变成二氧化硅晶体的趋向,此过程称为析晶。析晶通常发生在石英坩埚的表层。
严重的析晶会对拉晶造成影响。例如,析晶将减薄石英坩埚原有的厚度,降低了石英坩埚的强度,从而容易引起石英坩埚变形。特别是,近年来随着投料量的增大,拉晶时间也相应延长;随着拉晶时间的延长,还有可能导致漏料的发生。另外,石英坩埚内壁发生析晶时有可能破坏坩埚内壁原有的涂层,这将导致涂层下面的气泡层和熔硅发生反应,造成部分颗粒状氧化硅进入熔硅内,使得正在生长中的晶体结构发生变异而无法正常长晶。并且石英坩埚表面如果附带极其微小的杂质,析晶也将导致单晶在生长过程中断棱,影响成品率。
发明内容
基于此,有必要提供一种有效抑制石英坩埚析晶的单晶硅的制备方法。
一种单晶硅的制备方法,包括如下步骤:
在石英坩埚的内壁底部覆盖碳酸钡层;然后装入硅料进行直拉单晶操作。
上述单晶硅的制备方法,由于在装硅料直拉单晶之前,在石英坩埚的内壁底部事先覆盖碳酸钡层;当融硅时,碳酸钡会分解形成氧化钡,而氧化钡会与石英坩埚反应形成硅酸钡BaSiO3,由于硅酸钡BaSiO3的存在,从而在石英坩埚的内壁上形成一层致密微小的釉层。随着硅液面的上升,最终在石英坩埚内壁与硅液接触的地方均形成这种釉层。由于形成致密微小的釉层的保护层,有效抑制了析晶,因此可以大幅度的改善石英坩埚的使用寿命及长晶良率。这种致密微小的釉层的保护层很难使硅液渗入而剥落。另外,形成的致密微小的釉层保护层可以增加石英坩埚的强度,从而减少高温软化现象。碳酸钡的碳酸根会变成二氧化碳而逸出,不会与硅料中残留的碱金属离子、碱土金属离子结合成强碱,腐蚀石英坩埚。还有,钡在硅中的平衡偏析系数非常小,从而使得钡在硅晶棒中的浓度小于2.5×10-9/cm3;故而不会影响到硅晶棒的品质。
另外,采用本发明的方法,不用在石英坩埚的侧壁形成涂层,随着硅液面的上升,最终在石英坩埚内壁与硅液接触的地方均形成这种釉层;简化了操作,更有利于工业化实施。
在其中一个实施例中,所述碳酸钡层通过将碳酸钡粉撒在石英坩埚的内壁底部形成。
在其中一个实施例中,所述碳酸钡粉的质量为4.2g~7g。
在其中一个实施例中,在装入硅料之前,还包括在所述石英坩埚的上沿形成氢氧化钡层。
在其中一个实施例中,所述氢氧化钡层通过喷涂形成。
在其中一个实施例中,所述喷涂的喷涂液中水与氢氧化钡的质量比为48~54:1。
在其中一个实施例中,所述喷涂的厚度为0.2mm~0.6mm。
在其中一个实施例中,所述喷涂的宽度为100mm~150mm。
在其中一个实施例中,所述方法还包括在拉晶过程中,在提盖子中加入碳酸钡粉。
在其中一个实施例中,在提盖子中加入的碳酸钡粉的质量为3.4g~4g。
附图说明
图1为本发明一实施方式的石英坩埚组件沿轴向的截面结构示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合具体实施方式,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施方式仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的,不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
一种单晶硅的制备方法,包括如下步骤:
在石英坩埚的内壁底部覆盖碳酸钡层;然后装入硅料进行直拉单晶操作。
优选地,碳酸钡层通过将碳酸钡粉撒在石英坩埚的内壁底部形成。在本实施方式中,石英坩埚的连接圆角处以及整个石英坩埚的底壁均撒上碳酸钡粉。
在本实施方式中,碳酸钡粉的纯度大于99.85%。这样可以提高拉晶效果。
更优选地,碳酸钡粉可以商购,也可以通过自己制备获得。具体碳酸钡粉的制备方法如下:在氮气保护气氛下,在氢氧化钡溶液中通入纯的二氧化碳气体生成碳酸钡。
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