[发明专利]一种测量纳米材料的生产控制设备有效
申请号: | 201710327948.1 | 申请日: | 2017-05-11 |
公开(公告)号: | CN107144246B | 公开(公告)日: | 2019-02-12 |
发明(设计)人: | 崔建勋 | 申请(专利权)人: | 复朗施(北京)纳米科技有限公司 |
主分类号: | G01B21/00 | 分类号: | G01B21/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100048 北京市海淀区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 丝杠 安装挡块 滑动块 纳米材料 测量 轴承 生产控制设备 滑动底座 转动座 挡套 螺母 中间固定块 挡板 测量底座 测量设备 生产控制 丝杠导轨 轴承挡环 螺钉 定位板 滑动座 传感器 齿轮 顶丝 端盖 保证 | ||
1.一种测量纳米材料的生产控制设备,包括滑动底座(1)、传感器滑动座(2)、中间固定块(3)、滑动块(4)、转动座(5)、丝杠(6)、安装挡块Ⅰ(7)、端盖(8)、定位板(9)、挡板(10)、挡套Ⅰ(11)、螺钉(12)、测量底座(13)、顶丝(14)、挡套Ⅱ(15)、安装挡块Ⅱ(16)、齿轮(17)、轴承挡环(18)、轴承Ⅰ(19)、垫圈(20)、固定螺钉(21)、定位螺钉(22)、螺母(23)和轴承Ⅱ(24),其特征在于:滑动块(4)上设有三角底(4-1)、通孔(4-2)、滑槽(4-3)、底板(4-4)和固定口(4-5);
转动座(5)上设有螺纹孔(5-1);
丝杠(6)上设有螺纹段(6-1)、丝杠段(6-2)、轴承配合段(6-3)、齿轮配合段(6-4)和键槽(6-5);
装挡块Ⅰ(7)上设有轴承孔(7-1);
测量底座(13)上设有边台(13-1)和U型槽(13-2);
滑动底座(1)与安装挡块Ⅰ(7)相连接,滑动底座(1)与安装挡块Ⅱ(16)相连接,且滑动底座(1)位于安装挡块Ⅰ(7)与安装挡块Ⅱ(16)之间,传感器滑动座(2)与滑动块(4)相连接,中间固定块(3)与滑动块(4)相连接,转动座(5)与滑动块(4)相连接,转动座(5)与丝杠(6)相连接,丝杠(6)与轴承Ⅰ(19)相连接,丝杠(6)与螺母(23)相连接,丝杠(6)与轴承Ⅱ(24)相连接;端盖(8)与安装挡块Ⅰ(7)相连接,定位板(9)与滑动底座(1)相连接,挡板(10)与滑动块(4)相连接,挡套Ⅰ(11)与滑动块(4)相连接,螺钉(12)与测量底座(13)相连接,顶丝(14)与挡套Ⅱ(15)相连接,齿轮(17)与丝杠(6)相连接,轴承挡环(18)与安装挡块Ⅱ(16)相连接,轴承Ⅰ(19)位于丝杠(6)与安装挡块Ⅱ(16)之间,垫圈(20)位于丝杠(6)与固定螺钉(21)之间,固定螺钉(21)与丝杠(6)相连接,定位螺钉(22)使滑动块(4)与测量底座(13)相连接,螺母(23)与丝杠(6)相连接,轴承Ⅱ(24)位于丝杠(6)与安装挡块Ⅰ(7)之间。
2.根据权利要求1所述的一种测量纳米材料的生产控制设备,其特征在于:所述的转动座(5)、丝杠(6)、端盖(8)、齿轮(17)、轴承挡环(18)、轴承Ⅰ(19)、垫圈(20)、螺母(23)和轴承Ⅱ(24)共中心线。
3.根据权利要求1所述的一种测量纳米材料的生产控制设备,其特征在于:所述的安装挡块Ⅰ(7)与安装挡块Ⅱ(16)相平行。
4.根据权利要求1所述的一种测量纳米材料的生产控制设备,其特征在于:所述的滑动块(4)的长度为丝杠(6)的一半。
5.根据权利要求1所述的一种测量纳米材料的生产控制设备,其特征在于:所述的传感器滑动座(2)与滑动块(4)的连接方式为滑动连接。
6.根据权利要求1所述的一种测量纳米材料的生产控制设备,其特征在于:所述的滑动块(4)上设有的三角底(4-1)的角度为30°~60°。
7.根据权利要求1所述的一种测量纳米材料的生产控制设备,其特征在于:所述的挡套Ⅰ(11)的形状为L型。
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