[发明专利]一种测量纳米材料的生产控制设备

说明书

本发明涉及一种测量设备领域，更具体的说是一种测量纳米材料的生产控制设备，可以在纳米材料的生产控制上测量其结构尺寸，采用丝杠导轨的形式可以保证测量精度，滑动底座位于安装挡块Ⅰ与安装挡块Ⅱ之间，传感器滑动座与滑动块相连接，中间固定块与滑动块相连接，转动座与滑动块相连接，转动座与丝杠相连接，丝杠与轴承Ⅰ相连接，丝杠与螺母相连接，丝杠与轴承Ⅱ相连接；端盖与安装挡块Ⅰ相连接，定位板与滑动底座相连接，挡板与滑动块相连接，挡套Ⅰ与滑动块相连接，螺钉与测量底座相连接，顶丝与挡套Ⅱ相连接，齿轮与丝杠相连接，轴承挡环与安装挡块Ⅱ相连接，轴承Ⅰ位于丝杠与安装挡块Ⅱ之间。

技术领域

本发明涉及一种测量设备领域，更具体的说是一种测量纳米材料的生产控制设备。

背景技术

纳米材料是指在三维空间中至少有一维处于纳米尺寸(0.1-100nm)或由它们作为基本单元构成的材料，这大约相当于10～100个原子紧密排列在一起的尺度，传统的陶瓷材料中晶粒不易滑动，材料质脆，烧结温度高。纳米陶瓷的晶粒尺寸小，晶粒容易在其他晶粒上运动，因此，纳米陶瓷材料具有极高的强度和高韧性以及良好的延展性，这些特性使纳米陶瓷材料可在常温或次高温下进行冷加工。如果在次高温下将纳米陶瓷颗粒加工成形，然后做表面退火处理，就可以使纳米材料成为一种表面保持常规陶瓷材料的硬度和化学稳定性，而内部仍具有纳米材料的延展性的高性能陶瓷，纳米陶瓷的外形尺寸的测量，目前采用直尺直接测量，误差较大，所以设计一种测量纳米材料的生产控制设备。

发明内容

本发明主要解决的技术问题是提供一种测量纳米材料的生产控制设备，可以在纳米材料的生产控制上测量其结构尺寸，采用丝杠导轨的形式可以保证测量精度。

为解决上述技术问题，本发明涉及一种测量设备领域，更具体的说是一种测量纳米材料的生产控制设备，包括滑动底座、传感器滑动座、中间固定块、滑动块、转动座、丝杠、安装挡块Ⅰ、端盖、定位板、挡板、挡套Ⅰ、螺钉、测量底座、顶丝、挡套Ⅱ、安装挡块Ⅱ、齿轮、轴承挡环、轴承Ⅰ、垫圈、固定螺钉、定位螺钉、螺母和轴承Ⅱ，可以在纳米材料的生产控制上测量其结构尺寸，采用丝杠导轨的形式可以保证测量精度。

滑动块上设有三角底、通孔、滑槽、底板和固定口；

转动座上设有螺纹孔；

丝杠上设有螺纹段、丝杠段、轴承配合段、齿轮配合段和键槽；

装挡块Ⅰ上设有轴承孔；

测量底座上设有边台和U型槽；

滑动底座与安装挡块Ⅰ相连接，滑动底座与安装挡块Ⅱ相连接，且滑动底座位于安装挡块Ⅰ与安装挡块Ⅱ之间，传感器滑动座与滑动块相连接，中间固定块与滑动块相连接，转动座与滑动块相连接，转动座与丝杠相连接，丝杠与轴承Ⅰ相连接，丝杠与螺母相连接，丝杠与轴承Ⅱ相连接；端盖与安装挡块Ⅰ相连接，定位板与滑动底座相连接，挡板与滑动块相连接，挡套Ⅰ与滑动块相连接，螺钉与测量底座相连接，顶丝与挡套Ⅱ相连接，齿轮与丝杠相连接，轴承挡环与安装挡块Ⅱ相连接，轴承Ⅰ位于丝杠与安装挡块Ⅱ之间，垫圈位于丝杠与固定螺钉之间，固定螺钉与丝杠相连接，定位螺钉使滑动块与测量底座相连接，螺母与丝杠相连接，轴承Ⅱ位于丝杠与安装挡块Ⅰ之间。

作为本技术方案的进一步优化，本发明一种测量纳米材料的生产控制设备所述的转动座、丝杠、端盖、齿轮、轴承挡环、轴承Ⅰ、垫圈、螺母和轴承Ⅱ共中心线。

作为本技术方案的进一步优化，本发明一种测量纳米材料的生产控制设备所述的安装挡块Ⅰ与安装挡块Ⅱ相平行。

作为本技术方案的进一步优化，本发明一种测量纳米材料的生产控制设备所述的滑动块的长度为丝杠的一半。

作为本技术方案的进一步优化，本发明一种测量纳米材料的生产控制设备所述的传感器滑动座与滑动块的连接方式为滑动连接。