[发明专利]陶瓷芯体、绕线式电子部件以及陶瓷芯体的制造方法

说明书

本发明提供一种能够抑制合格率的降低的陶瓷芯体、绕线式电子部件以及陶瓷芯体的制造方法。由包含Ni和Zn的铁氧体材料构成的陶瓷芯体(20)具有沿长度方向(Ld)延伸的轴芯部(30)和设置于轴芯部(30)的长度方向(Ld)的两端的一对凸缘部(40)。陶瓷芯体(20)的沿着长度方向(Ld)的长度尺寸(L)为0mm＜L≤1.1mm。轴芯部(30)的棱线部(30R)的表面粗糙度为，以表面粗糙度(Rz)计为2.5μm以下。

技术领域

本发明涉及由包含Ni和Zn的铁氧体材料构成的陶瓷芯体、具备该陶瓷芯体的绕线式电子部件以及由包含Ni和Zn的铁氧体材料构成的陶瓷芯体的制造方法。

背景技术

作为以往的绕线式电子部件(例如，线圈部件)的芯体，公知有由包含Ni和Zn的铁氧体材料构成的陶瓷芯体(例如，参照专利文献1)。

专利文献1：日本特开2005-305624号公报

然而，随着手机等电子设备的小型化得到发展，对于搭载于上述的电子设备的绕线式电子部件，也推高了小型化的需求。但是，若绕线式电子部件的小型化得以进展，则容易产生绕线的卷绕凌乱、绕线的断线等绕线不良，导致成品率降低。

发明内容

本发明是为了解决上述问题点而完成的，其目的在于提供一种能够抑制成品率降低的陶瓷芯体、绕线式电子部件以及陶瓷芯体的制造方法。

解决上述课题的陶瓷芯体具有沿长度方向延伸的轴芯部和设置于上述轴芯部的上述长度方向的两端的一对凸缘部，并由包含Ni和Zn的铁氧体材料构成，该陶瓷芯体的沿着上述长度方向的尺寸L为0mm＜L≤1.1mm，上述轴芯部的棱线部的表面粗糙度为，以表面粗糙度Rz计为2.5μm以下。

根据该构成，在将长度尺寸L设定为0mm＜L≤1.1mm的小型的陶瓷芯体中，轴芯部的棱线部的表面形成为凹凸较小的平滑的面。因此，当在轴芯部卷绕了绕线的情况下，能够抑制产生卷绕凌乱等绕线不良。由此，能够抑制成品率的降低。

在上述陶瓷芯体中，优选上述各凸缘部设置为朝向与上述长度方向正交的高度方向和宽度方向向上述轴芯部的四周突出，上述轴芯部的沿着上述高度方向的尺寸t与上述凸缘部的沿着上述高度方向的尺寸T之比t/T为0＜t/T≤0.6，上述轴芯部的沿着上述宽度方向的尺寸w与上述凸缘部的沿着上述宽度方向的尺寸W之比w/W为0＜w/W≤0.6。

根据该构成，在小型的陶瓷芯体中，能够增大轴芯部与凸缘部在高度方向上的台阶差，并且能够增大轴芯部与凸缘部在宽度方向上的台阶差。由此，不但能够抑制成品率的降低，还能够兼顾小型化和扩大绕线区域(能够卷绕绕线的区域)。

在上述陶瓷芯体中，优选上述各凸缘部的沿着上述长度方向的尺寸在0.08mm～0.15mm的范围内。

在上述陶瓷芯体中，优选上述轴芯部的在上述高度方向上的中心偏离上述凸缘部的在上述高度方向上的中心。

根据该构成，在例如将陶瓷芯体应用于绕线式电子部件的情况下，在凸缘部的位于与轴芯部错开的方向相反一侧的端面形成电极，从而能够扩大轴芯部与电极分开的距离。由此，能够将电极的形成区域确保得较大，从而能够抑制产生电极与绕线间的接合不良等情况。其结果，能够抑制成品率的降低。

解决上述课题的绕线式电子部件具有：上述陶瓷芯体、形成于上述凸缘部的在上述高度方向上的一个端面的电极、以及卷绕于上述轴芯部并且端部电连接于上述电极的绕线。

根据该构成，在将长度尺寸L设定为0mm＜L≤1.1mm的小型的陶瓷芯体中，轴芯部的棱线部的表面形成为凹凸较小的平滑的面。因此，能够抑制在卷绕于轴芯部的绕线产生卷绕凌乱等绕线不良。由此，能够抑制成品率的降低。