[发明专利]半导体的来料检验方法

说明书

技术领域

本发明涉及日用电器领域，具体涉及一种半导体的来料检验方法。

背景技术

IQC即来料品质检验，指对采购进来的原材料、部件或产品做品质确认和查核，即在供应商送原材料或部件时通过抽样的方式对产品进行检验，并最后做出判断该批产品是接收还是退换。

IQC是企业产品在生产前的第一个控制品质的关卡，如把不合格品放到制程中，则会导致制程或最终产品的不合格，造成巨大的损失。IQC不仅影响到公司最终产品的品质，还影响到各种直接或间接成本。

在制造业中，对产品品质有直接影响的通常为设计、来料、制程、储运四大主项，一般来说设计占25％，来料占50％，制程占20％，储运1％到5％。综上所述，来料检验对公司产品质量占压倒性的地位，所以要把来料品质控制升到一个战略性地位来对待。

现有技术中，对于半导体的来料检验方法尚未见报道。

发明内容

本发明的目的是克服上述现有技术的不足之处，提供一种半导体的来料检验方法，以提高供货质量。

为达到上述目的，本发明采用如下技术方案：一种半导体的来料检验方法，所述半导体包括FR107、IN4007、IN4148、6V2、DB3、可控硅和三极管；所述半导体的来料检验方法包括以下步骤：步骤1：目测：半导体标识是否清晰，有无生锈、破损等情况；步骤2：仪测：在晶体管特性图示仪设置参数后，将半导体放在测试台上检测其耐压，FR107的耐压要求≥1200V，IN4007的耐压要求≥1400V，IN4148的耐压要求≥140V，6V2的耐压要求6.2V±5％，DB3的耐压要求32V±5％、可控硅和三极管的耐压要求≥450V；步骤3：将抽检情况记录在来料检验报告表上，并判定允收或退货。

进一步地，FR107和IN4007检测前，需将晶体管特性图示仪的参数设置为：输出电压为5000V、电压度为200V、电流度为1mA、幅度/级为1mA、功耗电阻为20KΩ、输入为零电流、作用为关、测试为关、峰值电压为2-3。

进一步地，IN4148检测前，需将晶体管特性图示仪的参数设置为：输出电压为500V、电压度为20V、电流度为1mA、幅度/级为1mA、功耗电阻为5KΩ、输入为零电流、作用为关、测试为B、峰值电压为2-3。

进一步地，6V2检测前，需将晶体管特性图示仪的参数设置为：输出电压为10V、电压度为10V、电流度为1mA、幅度/级为1mA、功耗电阻为20KΩ、输入为零电流、作用为关、测试为B、峰值电压为4-5。

进一步地，DB3检测前，需将晶体管特性图示仪的参数设置为：输出电压为50V、电压度为5V、电流度为1mA、幅度/级为1mA、功耗电阻为5KΩ、输入为零电流、作用为关、测试为B、峰值电压为4-5。

进一步地，可控硅和三级管检测前，需将晶体管特性图示仪的参数设置为：输出电压为500V、电压度为50V、电流度为1mA、幅度/级为1mA、功耗电阻为20KΩ、输入为零电流、作用为正常、测试为A、峰值电压为6-8。

进一步地，可控硅用可控硅简易检测仪检测其保护作用状况。

本发明的有益效果：本发明特地制定半导体的来料检验方法，规范检验要求，加强品质监督，提高供货质量，促使生产效率提高。

本发明的其它优点、目标和特征将部分通过下面的说明体现，部分还将通过对本发明的研究和实践而为本领域的技术人员所理解。

具体实施方式

结合下列实施例对本发明做进一步的详细说明，以令本领域技术人员参照说明书文字能够据以实施。

实施例1

本发明FR107的来料检验方法，包括以下步骤：

步骤1：目测：FR107标识是否清晰，有无生锈、破损等情况。

步骤2：仪测：在晶体管特性图示仪设置参数：输出电压为5000V、电压度为200V、电流度为1mA、幅度/级为1mA、功耗电阻为20KΩ、输入为零电流、作用为关、测试为关、峰值电压为2-3，然后将FR107放在测试台上检测其耐压，FR107的耐压要求≥1200V。

步骤3：将抽检情况记录在来料检验报告表上，并判定允收或退货。

无标识、混装、耐压超标、标识模糊不清的，判为退货。

实施例2

本发明IN4007的来料检验方法，包括以下步骤：

步骤1：目测：IN4007标识是否清晰，有无生锈、破损等情况。