[发明专利]一种测量继电器成品触点间距的X射线无损检测方法

权利要求书

1.一种测量继电器成品触点间距的X射线无损检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

1)将各类继电器型号数据录入系统，并获得各类继电器触点间距的经验数据，据此建立各类待检测的继电器触点形状、触点间距理想值的相应数据库；

2)构造X射线检测系统，将待检测的已封装的继电器成品通过X射线检测系统进行数字化图像采集，得到去除噪声的边缘细节采集图像；

3)根据步骤1)中数据库中先验触点的间距信息，设置滑动窗口大小为kd_idea；其中d_idea为先验触点的间距，k为正整数；

4)以k/2的大小移动所述滑动窗口；定义归一化互信息为其中F为待配准的边缘细节采集图像，R为对应的参考图像，H(F,R)为联合熵；H(F)和H(R)分别为待配准的边缘细节采集图像、参考图像的边缘熵；当联合熵达到最优值时，完成图像配准，获得在测继电器的触点间距信息。

2.根据权利要求1所述的测量继电器成品触点间距的X射线无损检测方法，其特征在于，k＝10。

3.根据权利要求1所述的测量继电器成品触点间距的X射线无损检测方法，其特征在于，log为以2为底的对数；p_F(i)和p_R(j)分别为待配准的边缘细节采集图像灰度值的边缘概率分布、参考图像灰度值的边缘概率分布；i和j分别表示待配准的边缘细节采集图像和对应的参考图像的灰度值。

4.根据权利要求2所述的测量继电器成品触点间距的X射线无损检测方法，其特征在于，P_FR(i,j)为待配准的边缘细节采集图像灰度值和对应的参考图像灰度值的联合概率分布；HIS表示联合直方图。

5.根据权利要求3所述的测量继电器成品触点间距的X射线无损检测方法，其特征在于，