[发明专利]一种测量继电器成品触点间距的X射线无损检测方法

说明书

本发明公开了一种测量继电器成品触点间距的X射线无损检测方法，充分利用射线的穿透能力，针对外壳已封装的继电器，利用穿过继电器的射线由于强度不同在传感器上的感光程度也不同，由此产生内部不连续的图像的原理。方法首先建立的未封装前各类继电器型号对应的匹配图数据库，然后将待检测的已封装的继电器成品通过X射线检测系统进行数字化图像采集并确定相似性测度和确定窗口大小以及窗口移动策略，进而计算继电器触点部分图像与数据库理想触点图像的互信息，最终准确测量出继电器触点间距。该检测方法具有实时性高，无需X光片等耗材，操作简便等特点。

技术领域

本发明涉及电气检测领域，特别是一种测量继电器成品触点间距的X射线无损检测方法。

背景技术

无损检测是在不破坏被检测物的情况下，应用一定的检测技术和分析方法对食品的内在品质加以测定，并按一定的标准作出评价的过程。无损检测技术可以避免破坏性测量造成的样品损失，具有对待测物进行跟踪、重复检测的优点。同时，其检测速度快，适于大规模产业化生产的在线检测和分级，易于实现自动化。在食品加工行业中最常用的无损检测的方法主要有磁学金属检测方法、可见光检测、近红外检测技术、磁共振成像技术、超声成像技术和X射线检测技术等。X射线具有穿透能力，而物质的密度大小又影响X射线的穿透量的多少，通过对穿透量的分析，就可以探明物质内部的情况。随着大规模、超大规模集成电路和图像处理技术的发展，随着计算机技术的日益发展和普及，并且高分辨率的X射线平板探测器和线阵探测器应用于实时成像系统，生成了可以和胶片相媲美的数字图像，为实现工农业设备上关键部件以及产品检测图像的智能识别提供了条件。

电磁继电器在我国的应用越来越广泛，它作为与电机结合的电子元器件,质量至关重要，不仅直接关系到生产设备的质量,更关系到操作人员的安全。电磁继电器应用场合大多为工业现场，一旦发生故障，后果将非常严重。因此,需要利用仪器对电磁继电器实施全面、自动化、准确的测量，以提高产品质量。X射线数字检测法具有检测速度快,工作周期短,成分耗费低等特点，通过X射线数字实时检测技术能将透过检测继电器的射线信号,实时地转换为可视化的数字图像的X射线检测技术,所得的数字图像能够为后期结果的评定、图像处理、特征提取，以及网络传输和保存等操作提供方便。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是，针对现有技术不足，提供一种测量继电器成品触点间距的X射线无损检测方法。

为解决上述技术问题，本发明所采用的技术方案是：一种测量继电器成品触点间距的X射线无损检测方法，包括如下步骤：一种测量继电器成品触点间距的X射线无损检测方法，包括以下步骤：

1)将各类继电器型号数据录入系统，并获得各类继电器触点间距的经验数据，据此建立各类待检测的继电器触点形状、触点间距理想值的相应数据库；

2)构造X射线检测系统，将待检测的已封装的继电器成品通过X射线检测系统进行数字化图像采集，得到去除噪声的边缘细节采集图像；

3)根据步骤1)中数据库中先验触点的间距信息，设置滑动窗口大小为kd_idea；其中d_idea为先验触点的间距，k为正整数；

4)定义归一化互信息为其中F为待配准的边缘细节采集图像，R为对应的参考图像，H(F,R)为联合熵；H(F)和H(R)分别为待配准的边缘细节采集图像、参考图像的边缘熵；当联合熵达到最优值时，完成图像配准，获得在测继电器的触点间距信息。

本发明中，k＝10。

log为以2为底的对数；p_F(i)和p_R(j)分别为待配准的边缘细节采集图像灰度值的边缘概率分布、参考图像灰度值的边缘概率分布；i和j分别表示待配准的边缘细节采集图像和对应的参考图像的灰度值。

为待配准的边缘细节采集图像灰度值和对应的参考图像灰度值的联合概率分布；HIS为联合直方图。