[发明专利]一种并行测试任务的同步触发执行方法

说明书

本发明公开了一种并行测试任务的同步触发执行方法，属于测试测量技术领域。本发明所提出的并行测试任务的同步触发执行方法，基于同步触发器搭建各个待测件(Unit Under Test，UUT)测试任务的测试过程控制机制，利用触发器属性参数设置和功能函数调用来完成测试过程控制选项的预先调整与设置，当用户通过测试任务操作界面来启动UUT测试任务时，可立刻执行所注册的所有UUT测试任务应用程序；本发明具有UUT测试任务的执行时间延迟稳定可设且不受UUT并行测试数目影响的优点，尤其适用于要求各个UUT测试任务“同时执行”的需求场景。

技术领域

本发明属于测试测量技术领域，具体涉及一种并行测试任务的同步触发执行方法。

背景技术

近年来，并行测试技术在测试测量领域备受关注且得到了越来越广泛的应用。以半导体测试行业所采用并行测试技术为例，目前配套自动测试设备(Automatic TestEquipment，ATE)/系统(Automatic Test System，ATS)通常利用测试夹具一次装载一批待测件，并发执行这些UUT测试任务(线程或进程)。这些ATE/ATS有效提高了测试效率与测试吞吐率。但是，由于所采用并行测试环境主要是单处理器非实时操作系统(如Windows)，因而难以实现严格意思上的同一时刻执行多个UUT测试任务，只是极短时间间隔内的多线程/多进程并发处理。一般做法如图1所示，整体上，操作用户首先通过测试任务操作界面依次启动各个UUT测试任务，然后各个UUT测试任务独立并发执行，相互之间无影响，轮流占用处理器时间与仪表设备资源；局部上看，单个UUT测试任务按次序调整测试基本信息、执行各个预定测试动作(包括测试状态设置、信号激励、信号测量、数据采集、存储记录、报表生成…)直到所有测试动作执行完毕后，视条件换下一个UUT继续进行处理，如此循环反复直到完成所有UUT的批量测试。归纳起来，可以说是“整体并行化异步并发执行、局部串行化顺序处理”。显然，目前这种执行处理方式存在不足：各个UUT测试任务从执行启动到执行就绪之间存在逐渐增加的不确定时间延迟，这种时延随着UUT测试任务并发数目的增加越发明显，因而无法适用于多个UUT测试任务要求“同时执行”的时间敏感场景需求。

并行测试技术是为了解决串行顺序测试技术测试效率低、资源利用率低的问题而提出的。传统的串行顺序测试在同一个时刻或同一时间间隔内只能对一个UUT测试任务进行处理，而并行测试技术则能够“同时执行”多个UUT测试任务。这不仅能够提高测试效率、缩短测试时间，而且可以减少各个测试资源的空闲等待状态时间，让多个UUT共享有限且宝贵的测试资源，有效节约测试成本。目前，并行测试技术的应用主要集中在半导体生产测试、软件测试、通讯产品协议一致性测试与装备维修检测等领域。国内对并行测试技术的研究方兴未艾，相关研究成果主要集中在并行测试系统的体系结构、系统模型与任务调度等方面，尚未形成系统理论。

2.1.1并行测试系统的概念

传统的自动测试系统采用的测试方法是基于串行概念的顺序测试(SequenceTest)，其基本思路如图2所示。当对一个UUT进行测试任务执行时，其测试动作按预先顺序进行处理，一直到其所有动作处理完毕后，才能够开始处理后续的UUT测试任务。若存在多个UUT测试任务执行时，则是按照预先设定的顺序依次进行处理，即一个UUT测试任务处理完毕才开始执行下一个UUT测试任务。

下面给出区别于传统顺序测试的并行测试系统概念。

定义1.1并行测试系统：测试系统处理器在同一时间间隔内按照一定的调度策略将输入系统存储设备中多个测试对象的测试任务序列有效并行处理，测试系统在同一时间段内可运行多项测试任务。测试任务序列划分的依据是考虑任务之间的数据无关、资源无关和控制无关等因素。并行测试系统是在传统串行测试系统的基础上通过资源的整合和软件运行模式的改变演化而来的。