[发明专利]数字X射线乳腺摄影系统中曝光指数及偏差指数计算方法在审
申请号: | 201710367643.3 | 申请日: | 2017-05-23 |
公开(公告)号: | CN107049345A | 公开(公告)日: | 2017-08-18 |
发明(设计)人: | 孙桂香;王桂芳;任小秋;辛忠英 | 申请(专利权)人: | 深圳艾砾拓科技有限公司 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00;G06T7/00;G06T7/11;G06T7/30;G01T1/08 |
代理公司: | 深圳市韦恩肯知识产权代理有限公司44375 | 代理人: | 黄昌平 |
地址: | 518000 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 数字 射线 乳腺 摄影 系统 曝光 指数 偏差 计算方法 | ||
1.一种数字X射线乳腺摄影系统中曝光指数计算方法,所述数字X射线乳腺摄影系统包括平板探测器及与所述平板探测器相连的剂量仪,其特征在于,包括以下步骤:
S1、平板探测器对剂量仪多次曝光并保存多次曝光后的多张照片,记录所述剂量仪每次曝光的剂量值Dose,计算每张照片的背景区域的灰度均值GrayMean,根据每张照片的背景区域的灰度均值GrayMean及与其相对应的曝光的剂量值Dose并通过线性拟合法计算出剂量仪的剂量值Dose与背景区域的灰度均值GrayMean的线性系数;
S2、分割出每张照片中的乳腺腺体区域Gland,并计算出所述乳腺腺体区域的感兴趣值GlandGrayMean,根据所述感兴趣值GlandGrayMean及所述线性系数计算出曝光指数EI。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述步骤S1之前,还包括以下步骤:
对平板探测器进行校正,其中所述校正包括暗场图像校正、明场图像校正以及坏点坏线校正;
确定RQM8辐射质量。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述步骤S1具体包括以下步骤:
利用OTSU经典分割算法分割出每张照片的背景区域,统计每张照片的背景区域中所有像素点灰度值的总和GraySum以及像素点的数量PointNum,利用公式GrayMean=GraySum/PointNum来计算出每张照片中背景区域的灰度均值GrayMean;以及
根据每张照片的灰度均值GrayMean及与其相对应的曝光的剂量值Dose计算出剂量仪的剂量值Dose与灰度均值GrayMean的线性系数,其中,计算公式为Dose=A*GrayMean+B,A和B为所述线性系数。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述步骤S2具体包括以下步骤:
利用OTSU经典分割算法分割出每张照片中的乳腺腺体区域Gland,统计每张照片的乳腺腺体区域Gland中像素点的灰度值总和GlandGraySum以及像素点的数量GlandPointNumber,利用公式GlandGrayMean=GlandGraySum/GlandPointNumber计算出每张照片中乳腺腺体区域的灰度均值GlandGrayMean,其中,该灰度均值GlandGrayMean为乳腺腺体区域Gland的感兴趣值;
利用公式EI=A*GlandGrayMean+B计算出所述曝光指数EI。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,在步骤S2之前还包括以下步骤:
对每张照片进行暗场图像校正、明场图像校正、坏点坏线校正,且所述每张照片均未做增强处理。
6.根据权利要求1或2或4或5所述的方法,其特征在于,所述平板探测器是Anrad乳腺探测器。
7.一种数字X射线乳腺摄影系统中偏差指数的计算方法,其特征在于,包括以下步骤:
收集平板探测器对同一部位曝光后的所有照片,并从所述所有照片中选取图像质量较好的m张照片,其中,m为大于等于2的正整数;
计算m张照片中每张照片的曝光指数EIi,并利用快速排序法对所述每张照片的曝光指数EIi进行排序以得到排序后的排序表TableEI,选取所述排序表TableEI中间的n个值,利用公式计算这n个值得平均值MeanEI,将所述平均值MeanEI作为目标曝光指数EIt,其中n为不大于m的正整数,EIi为m张照片中第i张照片的曝光指数,且2≤i≤m,i为正整数;
根据公式来计算偏差指数DI。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,当DI>0时表示所述平板探测器的曝光剂量偏高,当DI<0时表示所述平板探测器的曝光剂量偏低,当DI=0时表示所述平板探测器的曝光剂量合适。
9.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述m=100,所述n=20。
10.根据权利要求7-9任一项所述的方法,其特征在于,所述平板探测器对左侧斜位LMLO位进行曝光。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳艾砾拓科技有限公司,未经深圳艾砾拓科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710367643.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。