[发明专利]晶相识别方法、晶相识别装置、以及X射线衍射测定系统

权利要求书

1.一种晶相识别方法，使用数据库，所述数据库注册有关于多个晶相的X射线衍射图案的峰位置的数据和关于多个晶相的X射线衍射图案的峰强度比的数据，根据包含多个环状的衍射图案的数据的样品的X射线衍射数据来识别所述样品所包含的晶相，所述方法的特征在于，

根据所述X射线衍射数据针对多个所述衍射图案检测峰位置和峰强度，

根据所述X射线衍射数据针对多个所述衍射图案制作在检测出的各峰位置处周向的角度对强度的数据，

基于所制作的所述周向的角度对强度的数据的周向的一样性来将各衍射图案分类为多个群组，

基于分类为相同的群组的衍射图案的峰位置和峰强度比的组来从所述数据库检索所述样品所包含的晶相候补，峰强度比是多个衍射图案间的峰强度之比。

2.根据权利要求1所述的晶相识别方法，其特征在于，

根据各衍射图案的周向的角度对强度的数据来求取表示各衍射图案的强度的周向的均匀度的环特征因子，

根据所求取的所述环特征因子来将所述的各衍射图案分类为多个群组。

3.根据权利要求2所述的晶相识别方法，其特征在于，

根据各衍射图案的周向的角度对强度的数据，计算使强度为变量时的强度范围、标准方差、标准偏差或变动系数来作为所述环特征因子。

4.根据权利要求2所述的晶相识别方法，其特征在于，

根据各衍射图案的周向的角度对强度的数据，计算周向的角度对强度的分布中的峰数和峰宽来作为所述环特征因子。

5.根据权利要求2所述的晶相识别方法，其特征在于，

根据各衍射图案的周向的角度对强度的数据，制作强度的直方图来作为所述环特征因子。

6.根据权利要求2所述的晶相识别方法，其特征在于，

根据各衍射图案的周向的角度对强度的数据，计算强度分布的偏度、峰度或归一化平均X_norm来作为所述环特征因子。

7.一种晶相识别装置，使用数据库，所述数据库注册有关于多个晶相的X射线衍射图案的峰位置和关于多个晶相的X射线衍射图案的峰强度比的数据，根据包含多个环状的衍射图案的数据的样品的X射线衍射数据来识别所述样品所包含的晶相，所述装置的特征在于，具备：

检测单元，根据所述X射线衍射数据，针对多个所述衍射图案检测峰位置和峰强度，制作在检测出的各峰位置处各衍射图案的周向的角度对强度的数据；

分组单元，基于由所述检测单元制作的所述周向的角度对强度的数据的周向的一样性，将各衍射图案分类为多个群组；以及

检索单元，基于由所述分组单元分类为相同的群组的衍射图案的峰位置和峰强度比的组，从所述数据库检索所述样品所包含的晶相候补，峰强度比是指多个衍射图案间的峰强度之比。

8.根据权利要求7所述的晶相识别装置，其特征在于，

所述检测单元根据各衍射图案的周向的角度对强度的数据来求取表示各衍射图案的强度的周向的均匀度的环特征因子，

所述分组单元根据由所述检测单元求取的所述环特征因子来将所述的各衍射图案分类为多个群组。

9.根据权利要求8所述的晶相识别装置，其特征在于，

所述检测单元根据各衍射图案的周向的角度对强度的数据，计算使强度为变量时的强度范围、标准方差、标准偏差或变动系数来作为所述环特征因子。

10.根据权利要求8所述的晶相识别装置，其特征在于，

所述检测单元根据各衍射图案的周向的角度对强度的数据，计算周向的角度对强度的分布中的峰数和峰宽来作为所述环特征因子。

11.根据权利要求8所述的晶相识别装置，其特征在于，

所述检测单元根据各衍射图案的周向的角度对强度的数据，制作强度的直方图来作为所述环特征因子。