[发明专利]一种划痕检测方法与装置

权利要求书

1.一种划痕检测方法，其特征在于，包括：

获取待检测物表面的第一图像；

对所述第一图像进行去噪处理，得到去噪处理后的所述待检测物表面的第二图像；

判断所述第二图像中是否存在标准划痕，并显示判断结果。

2.根据权利要求1所述的划痕检测方法，其特征在于，所述获取待检测物表面的第一图像，包括：调用相机软件接口，以预设分辨率与预设灰度层次拍摄待检测物，得到所述待检测物表面的第一图像。

3.根据权利要求1所述的划痕检测方法，其特征在于，所述对所述第一图像进行去噪处理，得到去噪处理后的所述待检测物表面的第二图像，包括：

对所述第一图像进行二值化处理，得到经二值化处理后的所述待检测物表面的第三图像；

通过腐蚀所述第三图像，删除所述第三图像中的第一噪声目标；其中，所述第一噪声目标为所述第三图像中尺寸小于第一预设尺寸的噪声点；

在所述第三图像中，删除边界干扰目标，得到所述待检测物表面的第二图像。

4.根据权利要求3所述的划痕检测方法，其特征在于，所述删除所述第三图像中的第一噪声目标后，得到所述待检测物表面的第二图像前，还包括：

删除所述第三图像中的第二噪声目标；其中，所述第二噪声目标为所述第三图像中尺寸大于第二预设尺寸的噪声点，所述第二预设尺寸大于所述第一预设尺寸。

5.根据权利要求1所述的划痕检测方法，其特征在于，所述判断所述第二图像中是否存在标准划痕，具体包括：

在所述第二图像中检测到划痕粒子时，获取所述第二图像中的所述划痕粒子的最大费雷特直径；

若在所述第二图像中未检测到划痕粒子或所述划痕粒子满足预设条件，则判定待检测物合格；所述预设条件为所述划痕粒子的最大费雷特直径小于或等于预设阈值；

若所述划痕粒子的最大费雷特直径大于预设阈值，则判定所述划痕粒子为标准划痕，判定待检测物不合格。

6.一种划痕检测装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取待检测物表面的第一图像；

去噪模块，用于对所述第一图像进行去噪处理，得到去噪处理后的所述待检测物表面的第二图像；

判断模块，用于判断所述第二图像中是否存在标准划痕，并显示判断结果。

7.根据权利要求6所述的划痕检测装置，其特征在于，包括：所述获取模块，包括：

调用子模块，用于调用相机软件接口；

图像获取子模块，用于以预设分辨率与预设灰度层次拍摄待检测物，得到所述待检测物表面的第一图像。

8.根据权利要求6所述的划痕检测装置，其特征在于，包括：所述去噪模块包括：

第三图像获取子模块，用于对所述第一图像进行二值化处理，得到经二值化处理后的所述待检测物表面的第三图像；

第一噪声目标删除子模块，用于通过腐蚀所述第三图像，删除所述第三图像中的第一噪声目标；其中，所述第一噪声目标为所述第三图像中尺寸小于第一预设尺寸的噪声点；

第二图像获取子模块，用于在所述第三图像中，删除边界干扰目标，得到所述待检测物表面的第二图像。

9.根据权利要求8所述的划痕检测装置，其特征在于，所述去噪模块还包括第二噪声目标删除子模块；

所述第二噪声目标删除子模块用于删除所述第三图像中的第二噪声目标；其中，所述第二噪声目标为所述第三图像中尺寸大于第二预设尺寸的噪声点，所述第二预设尺寸大于所述第一预设尺寸。

10.根据权利要求6所述的划痕检测装置，其特征在于，包括：所述判断模块包括：

划痕粒子检测子模块，用于检测所述第二图像中的划痕粒子；

最大费雷特直径获取子模块，用于在所述第二图像中检测到所述划痕粒子时，获取所述第二图像中的划痕粒子的最大费雷特直径；

标准划痕判断子模块，用于在所述划痕粒子的最大费雷特直径大于预设阈值时，判定所述划痕粒子为标准划痕。