[发明专利]一种划痕检测方法与装置

说明书

技术领域

本发明涉及图像处理领域，特别涉及一种划痕检测方法与装置。

背景技术

随着电子产品的迅猛发展，电子产品质量的要求也越来越严格，比如，光盘等电子产品出现细微的、肉眼难以看清的小划痕都视为不良。因而，光盘等电子产品的检查逐渐成为提升产品品质必不可少的环节。现有技术中，主要通过人工观察光盘等电子产品的表面是否有划痕，从而判断光盘等电子产品是否合格。

在实现本发明的过程中，发明人发现现有技术中至少存在如下问题：一方面，每条生产线均配备人力，白夜班轮流检测光盘等电子产品表面是否有划痕，导致人力成本过高，同时，人力长期工作产生疲劳，容易出现误判，从而影响产品的检测结果。另一方面，现有技术只能通过人工观察检测出明显的划痕，对于细小的、肉眼难以分辨的划痕，存在大量的误判，也就是说，由于划痕面积越来越小，人眼已经很难分辨，这导致人工检测光盘等电子产品表面是否有划痕越来越困难。

发明内容

本发明实施方式的目的在于提供一种划痕检测方法与装置，使得可以有效地检测出待检测物表面的划痕，同时，可以节约大量的人力。

为解决上述技术问题，本发明的实施方式提供了一种划痕检测方法，包括：获取待检测物表面的第一图像；对第一图像进行去噪处理，得到去噪处理后的待检测物表面的第二图像；判断第二图像中是否存在标准划痕，并显示判断结果。

本发明的实施方式还提供了一种划痕检测装置，包括：获取模块，用于获取待检测物表面的第一图像；去噪模块，用于对第一图像进行去噪处理，得到去噪处理后的待检测物表面的第二图像；判断模块，用于判断第二图像中是否存在标准划痕，并显示判断结果。

本发明实施方式相对于现有技术而言，终端在获取待检测物表面的第一图像后，可以对上述第一图像进行去噪处理，得到去噪处理后的待检测物表面的第二图像。由于第一图像中的噪声会对划痕的检测造成干扰，因而，对第一图像进行去噪处理，可以避免噪声对划痕检测的干扰，有利于更有效地检测出待检测物表面的划痕。这样，可以避免人工检测待检测物表面的划痕，同时可以避免为生产线上配备大量人工，因而，可以节约大量人力成本。

在一个实施方式中，对第一图像进行去噪处理，得到去噪处理后的待检测物表面的第二图像，包括：对第一图像进行二值化处理，得到经二值化处理后的待检测物表面的第三图像；通过腐蚀第三图像，删除第三图像中的第一噪声目标；其中，第一噪声目标为第三图像中尺寸小于第一预设尺寸的噪声点；在第三图像中，删除边界干扰目标，得到待检测物表面的第二图像。本发明实施方式中，对获取的第一图像进行二值化处理，可以使经二值化处理后的第三图像中的划痕与背景区分更明显，从而有利于划痕的检测。通过腐蚀第三图像，删除第三图像中尺寸小于第一预设尺寸的噪声点，并且删除边界干扰目标，得到待检测物表面的第二图像，这样，可以避免噪声点以及边界干扰目标对划痕检测的干扰，从而可以更有效地检测出待检测物表面的划痕。

在一个实施方式中，删除第三图像中的第一噪声目标后，得到所述待检测物表面的第二图像前，包括：删除第三图像中的第二噪声目标；其中，第二噪声目标为第三图像中尺寸大于第二预设尺寸的噪声点，第二预设尺寸大于第一预设尺寸。本发明实施方式可以在删除第三图像中的尺寸小于第一预设尺寸的第一噪声目标之后，仍有尺寸大于第二预设尺寸的第二噪声目标存在时，将上述第二噪声目标删除，这样，可以删除第三图像中背景上的各种尺寸的噪声点，避免第三图像中的背景因存在噪声点而对划痕的检测产生干扰，从而可以有效地检测出待检测物表面的划痕。

在一个实施方式中，判断第二图像中是否存在标准划痕，具体包括：在第二图像中检测到划痕粒子时，获取第二图像中的划痕粒子的最大费雷特直径；若在第二图像中未检测到划痕粒子或划痕粒子满足预设条件，则判定待检测物合格；预设条件为划痕粒子的最大费雷特直径小于或等于预设阈值；若划痕粒子的最大费雷特直径大于预设阈值，则判定划痕粒子为标准划痕，判定待检测物不合格。本发明实施方式中，终端可以检测第二图像中是否存在划痕粒子，并且可以在检测到划痕粒子时，通过判断划痕粒子的最大费雷特直径是否大于预设阈值，判断上述划痕粒子是否为标准划痕。终端还可以在判定检测出的划痕粒子为标准划痕时，判定待检测物为不合格产品，这样，使得检测待检测物表面的划痕更具可行性，从而可以有效地检测出待检测物表面的划痕。

附图说明

图1是根据本发明第一实施方式的划痕检测方法的流程图；

图2是根据本发明第二实施方式的划痕检测方法的流程图；