[发明专利]阵列基板、制备方法、显示面板以及显示装置有效

专利信息
申请号: 201710375613.7 申请日: 2017-05-24
公开(公告)号: CN107104110B 公开(公告)日: 2020-03-10
发明(设计)人: 李海旭;曹占锋;姚琪;汪建国;路达;董水浪;刘清召;班圣光 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L29/786;H01L21/77
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 赵天月
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 阵列 制备 方法 显示 面板 以及 显示装置
【权利要求书】:

1.一种制备阵列基板的方法,其特征在于,包括:

在衬底上设置薄膜晶体管,所述薄膜晶体管是通过以下步骤设置的:

在所述衬底上设置遮光层,所述遮光层的材料包括掺杂Ge的非晶硅,基于所述遮光层的总质量,Ge的含量为0.5-5wt%;

在所述遮光层远离所述衬底的一侧设置第一缓冲层;

在所述第一缓冲层远离所述遮光层的一侧设置有源层,

其中,所述遮光层、所述第一缓冲层以及所述有源层是通过下述方法设置的:

通过化学气相沉积,在所述衬底上依次形成第二缓冲层、Ge掺杂非晶硅层、氧化硅层以及非晶硅层;对所述非晶硅层进行激光退火处理,以便将所述非晶硅层转化为多晶硅层;对所述Ge掺杂非晶硅层、所述氧化硅层以及所述多晶硅层进行刻蚀处理,以便形成所述遮光层、第一缓冲层和所述有源层,其中,所述Ge掺杂非晶硅层是通过在所述化学气相沉积过程中,添加Ge源气体而形成的;或者,

通过化学气相沉积,在所述衬底上依次形成第二缓冲层、第一非晶硅层、氧化硅层以及第二非晶硅层;对所述第一非晶硅层进行离子注入处理,以便形成Ge掺杂非晶硅层;对所述第二非晶硅层进行激光退火处理,以便形成多晶硅层;对所述Ge掺杂非晶硅层、所述氧化硅层以及所述多晶硅层进行刻蚀处理,以便形成所述遮光层、第一缓冲层和所述有源层。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在设置所述薄膜晶体管之前,进一步包括:

在所述衬底上设置第二缓冲层。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,进一步包括:

在所述有源层远离所述第一缓冲层的一侧设置源极和漏极,所述源极和所述漏极分别设置在沟道区的两侧;以及

在所述有源层远离所述遮光层的一侧设置栅极,所述栅极设置在所述沟道区远离所述第一缓冲层的一侧。

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