[发明专利]实时时钟校准方法及装置、存储介质、电子设备

说明书

一种实时时钟校准方法及装置、存储介质、电子设备，所述方法包括：获取当前温度值；从预设的频率偏差与温度值的映射关系中，获取与当前温度值对应的频率偏差；根据所述当前温度值对应的频率偏差，对实时时钟进行校准；其中：频率偏差与温度值的映射关系包括：样本第一二次曲线及样本第二二次曲线，采用如下步骤生成：获取在不同温度值下，样本中每一颗晶体的实测振荡频率与标定振荡频率的频率差值；计算样本中每一颗晶体对应的频率差值相对于第一温度值下对应晶体的频率差值的偏差；将温度值不大于第一温度值的所有偏差拟合出样本第一二次曲线，将温度值不小于第一温度值对应的所有偏差拟合出样本第二二次曲线。上述方案能够提高RTC计时精度。

技术领域

本发明涉及实时时钟领域，尤其涉及一种实时时钟校准方法及装置、存储介质、电子设备。

背景技术

在嵌入式系统中，实时时钟(Real Time Clock，RTC)是一种高密度集成的专用模块，能够实现保持跟踪时间、日期和年月等功能，确保计时精确可靠。

实时时钟通常采用精度较高的晶体振荡器作为时钟源。由于晶体振荡频率会随着温度呈现二次曲线漂移，导致RTC模块随温度变化产生频率偏差，进而导致计时误差。为降低计时误差，RTC模块中通常加入了温度补偿电路，通过温度补偿电路，将计时误差控制在±5PPM(Percent Per Million，百万分之一)的范围内，保证一天的计时精度误差在0.5秒内。

温度补偿电路通常是采用微控制单元(Micro Controller Unit，MCU)芯片内部或者外部的温度传感器测量温度值，根据“温度—频率特性曲线”得出该温度值对应的频率偏差值，MCU通过修改秒脉冲分频值实现补偿修正。因此，“温度—频率特性曲线”，也即RTC模块中的晶体的频率偏差与温度值的映射关系的准确性直接决定了计时精度误差。

现有技术中，晶体的频率偏差与温度值的映射关系的误差较大，导致RTC的计时精度误差较大。

发明内容

本发明实施例解决的技术问题是如何降低晶体的频率偏差与温度值的映射关系的误差，提高RTC的计时精度。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供一种实时时钟校准方法，包括：获取当前温度值；从预设的频率偏差与温度值的映射关系中，获取与当前温度值对应的频率偏差；根据所述当前温度值对应的频率偏差，对所述实时时钟进行校准；其中：所述预设的频率偏差与温度值的映射关系包括：样本第一二次曲线以及样本第二二次曲线，所述样本第一二次曲线和所述样本第二二次曲线采用如下步骤生成：获取在不同温度值下，样本中每一颗晶体的实测振荡频率与标定振荡频率的频率差值；计算所述样本中每一颗晶体对应的频率差值相对于第一温度值下对应晶体的频率差值的偏差；将温度值不大于所述第一温度值的所有偏差拟合出所述样本第一二次曲线，将温度值不小于所述第一温度值对应的所有偏差拟合出所述样本第二二次曲线。

可选的，所述将温度值不大于所述第一温度值的所有偏差拟合出所述样本第一二次曲线，包括：计算在所有不大于所述第一温度值的每一温度值下所述样本中每一颗晶体对应的偏差的算术平均数，作为所有不大于所述第一温度值的每一温度值对应的第一算术平均数；根据所述所有不大于所述第一温度值的每一温度值及其对应的所述第一算术平均数，拟合出所述样本第一二次曲线。

可选的，所述将温度值不小于所述第一温度值的所有偏差拟合出所述样本第二二次曲线，包括：计算在所有不小于所述第一温度值的每一温度值下所述样本中每一颗晶体对应的偏差的算术平均数，作为所有不小于所述第一温度值的每一温度值对应的第二算术平均数；根据所述所有不小于所述第一温度值的每一温度值及其对应的所述第二算术平均数，拟合出所述样本第二二次曲线。