[发明专利]一种消除衬偏效应的深亚微米CMOS自举开关在审

专利信息
申请号: 201710423600.2 申请日: 2017-06-07
公开(公告)号: CN107241088A 公开(公告)日: 2017-10-10
发明(设计)人: 胡蓉彬;王永禄;张正平;王健安;陈光炳;付东兵;王育新;蒋和全;胡刚毅 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第二十四研究所
主分类号: H03K17/687 分类号: H03K17/687;H03M1/12
代理公司: 北京同恒源知识产权代理有限公司11275 代理人: 赵荣之
地址: 400060 *** 国省代码: 重庆;85
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摘要:
搜索关键词: 一种 消除 效应 微米 cmos 开关
【权利要求书】:

1.一种消除衬偏效应的深亚微米CMOS自举开关,其特征在于:包括NMOS晶体管N1、NMOS晶体管N3~N7、PMOS晶体管P2~P4、电容C2和公共节点;所述NMOS晶体管N1的源极作为自举开关的输入端,漏极作为自举开关的输出端,输出端接对地电容C1;所述NMOS晶体管N1的栅极分别与PMOS晶体管P2的栅极、NMOS晶体管N3的漏极、PMOS晶体管P4的漏极、NMOS晶体管N6的栅极、NMOS晶体管N7的栅极连接,NMOS晶体管N1的源极与NMOS晶体管N7的漏极连接;NMOS晶体管N7的源极与NMOS晶体管N6的源极连接,且经公共节点分别与NMOS晶体管N4的漏极、NMOS晶体管N5的源极、电容C2的下极板、NMOS晶体管N1的衬底连接;所述NMOS晶体管N6的漏极分别与PMOS晶体管P4的栅极、NMOS晶体管N5的漏极、PMOS晶体管P3的漏极连接;所述PMOS晶体管P2的漏极分别与电容C2的上极板、PMOS晶体管P4的源极连接;PMOS晶体管P2的衬底与漏极连接,源极接电源VCC;PMOS晶体管P3的源极接电源VCC;PMOS晶体管P4的衬底与源极连接;所述NMOS晶体管N4的源极、NMOS晶体管N3的源极分别接地,NMOS晶体管N4的栅极与NMOS晶体管N3的栅极连接并同时接时钟信号CLKN;PMOS晶体管P3的栅极与PMOS晶体管N5的栅极连接并同时接时钟信号CLK,所述时钟信号CLK与时钟信号CLKN互为相反的时钟信号。

2.根据权利要求1所述的一种消除衬偏效应的深亚微米CMOS自举开关,其特征在于:还包括NMOS晶体管N2和PMOS晶体管P1;所述NMOS晶体管N2的漏极与PMOS晶体管P2的栅极连接,NMOS晶体管N2的源极分别与PMOS管P1的漏极、NMOS晶体管N3的漏极连接;所述PMOS管P1的栅极与NMOS晶体管N3的栅极连接,PMOS晶体管P1的源极与NMOS管N2的栅极接电源VCC。

3.根据权利要求2所述的一种消除衬偏效应的深亚微米CMOS自举开关,其特征在于:还包括第一buffer电路和第二buffer电路;所述第一buffer电路的输入为自举开关的输入端,第一buffer的输出端与NMOS晶体管N1的源极连接,所述第二buffer电路的输出端为自举开关的输出端,第二buffer电路的输入端与NMOS晶体管N1的漏极连接。

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