[发明专利]一种能避免超薄芯片碎裂的吸取方法在审

专利信息
申请号: 201710426492.4 申请日: 2017-06-08
公开(公告)号: CN107369642A 公开(公告)日: 2017-11-21
发明(设计)人: 周木火 申请(专利权)人: 太极半导体(苏州)有限公司
主分类号: H01L21/683 分类号: H01L21/683;H01L21/687
代理公司: 苏州铭浩知识产权代理事务所(普通合伙)32246 代理人: 朱斌兵
地址: 215000 江苏省苏州市工*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 避免 超薄 芯片 碎裂 吸取 方法
【权利要求书】:

1.一种能避免超薄芯片碎裂的吸取方法,其特征在于:包括如下步骤:

第一步:将带有粘膜的芯片放置到吸取平台上,利用吸取平台上的真空孔将粘膜下端吸附,同时芯片上端利用平面吸嘴吸附;

第二步:三段式顶针平台内的升降杆开启,通过上底座带动第一顶针平台、第二顶针平台和第三顶针平台同时往上移动,第一顶针平台将芯片顶起,使得位于第一顶针平台四周的粘膜和芯片进行分离;

第三步:三段式顶针平台内的第一顶杆往上移动,第一顶杆驱动第二顶针平台和第三顶针平台同时往上移动,第二顶针平台将芯片顶起,使得位于第二顶针平台四周的粘膜和芯片进行分离;

第四步:三段式顶针平台内的第二顶杆往上移动,第二顶杆驱动第三顶针平台往上移动,第三顶针平台将芯片顶起,使得位于第三顶针平台上方的粘膜和芯片分离;

第五步:利用平面吸嘴将芯片从粘膜上拾取并放置到支架上。

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