[发明专利]一种基于舍选抽样的电子多次散射角抽样方法

权利要求书

1.一种基于舍选抽样的电子多次散射角抽样方法，其特征在于，包括以下步骤：

(1)构建多次散射角θ的小角近似的分布函数F_SA(θ)，要求该公式有解析形式且比较简单从而易于直接抽样；

(2)计算多次散射角θ的理论分布函数F_MS(θ)与F_SA(θ)之商f(θ)的最大值f_max；

(3)根据F_SA(θ)直接抽样多次散射角θ_sample；

(4)计算f(θ_sample)，并抽样[0,1]内的随机数ζ，如果ζ<f(θ_sample)/f_max，则接受θ_sample，否则返回步骤(3)。

2.根据权利要求1所述的基于舍选抽样的电子多次散射角抽样方法，其特征在于：将多次散射角θ的理论分布函数F_MS(θ)分解为两部分之积F_MS(θ)＝F_SA(θ)×f(θ)，前一部分F_SA(θ)进行直接抽样，另一部分f(θ)作为舍选函数。

3.根据权利要求1所述的基于舍选抽样的电子多次散射角抽样方法，其特征在于：小角近似分布公式的选择要使f(θ)＝F_MS(θ)/F_SA(θ)的最大值在确定的有限几个点，这样避免反复寻找舍选函数f的最大值。

4.一种基于舍选抽样的电子多次散射角抽样方法，其特征在于，包括以下步骤：

(1)构建多次散射角余弦ω的小角近似的分布函数F_SA(ω)，F_SA(ω)为高斯函数；

(2)计算多次散射角余弦ω的理论分布函数F_MS(ω)与F_SA(ω)之商f(ω)的最大值maxf_SA/GS；

(3)根据F_SA(ω)直接抽样多次散射角余弦ω_Gauss；

(4)计算f(ω_Gauss)，并抽样[0,1]内的随机数ζ，如果ζ<f(ω_Gauss)/maxf_SA/GS，则接受ω_Gauss，否则返回步骤(3)。

5.根据权利要求4所述的基于舍选抽样的电子多次散射角抽样方法，其特征在于：F_SA(ω)的表达式为σ是高斯分布的标准差。

6.根据权利要求4或5所述的基于舍选抽样的电子多次散射角抽样方法，其特征在于：F_MS(ω)选用GS理论或Lewis理论的多次散射角余弦分布函数。

7.根据权利要求4或5所述的基于舍选抽样的电子多次散射角抽样方法，其特征在于：步骤(3)中，当抽样得到的ω_Gauss<-1时，则重新抽样ω_Gauss。