[发明专利]三维检测装置以及用于三维检测的方法有效

专利信息
申请号: 201710450279.7 申请日: 2017-06-15
公开(公告)号: CN108627512B 公开(公告)日: 2021-09-24
发明(设计)人: 李文宗;温光溥;林栋 申请(专利权)人: 德律科技股份有限公司
主分类号: G01N21/84 分类号: G01N21/84
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 徐金国
地址: 中国台湾台北*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 三维 检测 装置 以及 用于 方法
【权利要求书】:

1.一种三维检测装置,其特征在于,包含:

一承载平台,用以支撑一物体;

一影像感测组件,用以沿一第一轴向、一第二轴向、一第三轴向、一第四轴向以及一第五轴向分别撷取该物体的一第一影像、一第二影像、一第三影像、一第四影像以及一第五影像,其中该第一轴向、该第二轴向、该第三轴向、该第四轴向以及该第五轴向互不平行,该第一轴向垂直于该承载平台的一上表面,该第三轴向与该第四轴向形成一第一平面,该第二轴向与该第五轴向形成一第二平面,该第一平面与该第二平面交错;

一信息处理控制器,用以分析该第一影像以及该第二影像以取得一第一方位立体信息,分析该第一影像以及该三影像以取得一第二方位立体信息,分析该第一影像以及该四影像以取得一第三方位立体信息,分析该第一影像以及该五影像以取得一第四方位立体信息,分析该第三影像与该第四影像,以取得一第五方位立体信息,并分析该第二影像与该第五影像,以取得一第六方位立体信息;以及

一投影机,用以投射一光学图样至该物体,其中该光学图样具有多个随机分布的点,且位于该物体的一部分上的所述点具有不同于位于该物体的其他部分上的所述点的分布,其中该影像感测组件撷取的该物体的该第一影像、该第二影像、该第三影像、该第四影像以及该第五影像包含该物体上的该光学图样。

2.根据权利要求1所述的三维检测装置,其特征在于,其中该第三轴向与该第四轴向分别朝向该第二平面的相反两侧延伸。

3.根据权利要求1所述的三维检测装置,其特征在于,该影像感测组件包含多个影像感测器,分别设置于该第一轴向、该第二轴向、该第三轴向、该第四轴向以及该第五轴向上,分别用以撷取该第一影像、该第二影像、该第三影像、该第四影像以及该第五影像。

4.根据权利要求1所述的三维检测装置,其特征在于,该影像感测组件包含一静止影像感测器以及一可移动影像感测器,该静止影像感测器设置于该第一轴向上且用以撷取该第一影像,该可移动影像感测器用以沿着该第二轴向、该第三轴向、该第四轴向以及该第五轴向的至少一者,撷取该第二影像、该第三影像以及该第四轴向的至少一者,其中该第二轴向、该第三轴向、该第四轴向以及该第五影像分别与该第一轴向夹相同角度。

5.根据权利要求1所述的三维检测装置,其特征在于,该第一平面垂直于该承载平台的一上表面,该第二平面垂直于该承载平台的该上表面。

6.根据权利要求1所述的三维检测装置,其特征在于,该第一平面与该承载平台的该上表面的倾斜夹角在80度至100度的范围内。

7.根据权利要求1所述的三维检测装置,其特征在于,该第一平面不平行于该第二平面。

8.一种用于三维检测的方法,其特征在于,包含:

设置一物体于一承载平台上;

投射一光学图样至该物体,其中该光学图样具有多个随机分布的点,且位于该物体的一部分上的所述点具有不同于位于该物体的其他部分上的所述点的分布;

沿一第一轴向撷取该物体的一第一影像、沿一第二轴向撷取该物体的一第二影像、沿一第三轴向撷取该物体的一第三影像、沿一第四轴向撷取该物体的一第四影像以及沿一第五轴向撷取该物体的一第五影像,其中该第一轴向、该第二轴向、该第三轴向、该第四轴向以及该第五轴向互不平行,该第一轴向垂直于该承载平台的一上表面,该第三轴向与该第四轴向形成一第一平面,该第二轴向与该第五轴向形成一第二平面,该第一平面与该第二平面交错,其中该撷取该物体的该第一影像、该第二影像、该第三影像、该第四影像以及该第五影像包含撷取该物体上的该光学图样;

分析该第一影像与该第二影像,以取得一第一方位立体信息;

分析该第一影像与该第三影像,以取得一第二方位立体信息;

分析该第一影像与该第四影像,以取得一第三方位立体信息;

分析该第一影像与该第五影像,以取得一第四方位立体信息;

分析该第三影像与该第四影像,以取得一第五方位立体信息;以及

分析该第二影像与该第五影像,以取得一第六方位立体信息。

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