[发明专利]一种ICNewProject自动化测试方法

权利要求书

1.一种ICNewProject自动化测试方法，其特征在于该方法通过ICNewProject自动获取所支持的工程类型、支持的芯片类型，并自动新建工程并编译工程，最后获取编译结果并对结果统计和分析。

2.如权利要求1所述的ICNewProject自动化测试方法，其特征在于该方法包含步骤如下：

步骤1：获取所支持的工程类型，获取所支持的芯片类型；

步骤2：选择一个芯片型号和一种工程类型，新建工程；

步骤3：对工程进行编译，输出编译结果；

步骤4：获取编译结果；

步骤5：分析和统计编译结果；

步骤6：生成报告。

3.如权利要求2所述的ICNewProject自动化测试方法，其特征在于步骤1中，具体的实现步骤是：

101、启动开发工具后，开启集成开发环境，进入工程类型选择界面；

102、获取所有的工程类型；

103、进入芯片型号选择界面；

104、获取所有的芯片型号。

4.如权利要求2所述的ICNewProject自动化测试方法，其特征在于步骤2中，具体的实现步骤是：

201、选择工程类型；

202、选择芯片型号；

203、创建芯片工程，直至完成所有芯片型号的芯片工程；

204、判断是否完成所有的芯片型号；是则继续下一步，否则返回202步骤；

205、判断是否完成所有的工程类型；是则继续下一步，否则返回201步骤；

206、完成所有芯片类型和所有工程类型。

5.如权利要求2所述的ICNewProject自动化测试方法，其特征在于步骤3中，具体的实现步骤是：

301、选择一个工程；

302、编译工程；

303、获取编译结果；

304、判断是否编译成功；如果是，则记录为成功，如果否，则记录为失败；

305、统计所有比较结果，输出测试报告。