[发明专利]一种ICNewProject自动化测试方法

说明书

技术领域

本发明属于测试的技术领域，特别涉及通过ICNewProject实现的自动化测试方法。

背景技术

ICNewProject指新建所有IC型号的不同类型的工程,并确认是否成功创建工程，以及确认工程内容的正确性和编译结果的正确性。在开发过程中，芯片型号种类繁多，并且每种型号的头文件定义和起始代码也不相同，再加上IDE支持的工程类型也有多种(目前支持c和asm)，如果依靠人工手动新建工程再执行编译，效率太低。而且芯片的内容也经常修改，芯片型号也会随之修改，在以往的测试中,都是通过人工新建工程再编译，非常耗时；不利于芯片的测试和开发，严重影像芯片的开发效率。

因此，人们会采取一些方法，以提高编译速度，增加测试效率。如专利申请201610820732.4公开了一种通过CodeOption实现自动化测试方法，该方法通过获取所有支持的芯片型号及相关CodeOption；并将CodeOption与正确值进行对比，将结果内容中的ID替换为有效的设置内容来实现。通过本发明自动获取所有支持的芯片型号，并自动设置每种芯片型号所有设置的组合，最后获取Codeoption并对结果统计和分析，使得芯片能够通过CodeOption进行快速地自动化测试。然而，该申请虽然能够自动获取芯片型号，但是对于芯片测试时所需的工程问题却无法解决。

发明内容

基于此，因此本发明的首要目地是提供一种ICNewProject自动化测试方法，该方法可以依据不同芯片类型、以及需要支持的工程类型，自动新建工程，并自动编译和查看结果。对于新增的芯片系列，也可以通过该系统实现该系列的不同工程类型的自动化测试。

本发明的另一个目地在于提供一种ICNewProject自动化测试方法，该方法能够提高测试效率，减少人员的投入以及减少漏测的情况。

为实现上述目的，本发明的技术方案为：

一种ICNewProject自动化测试方法，其特征在于该方法通过ICNewProject自动获取所支持的工程类型、支持的芯片类型，并自动新建工程并编译工程，最后获取编译结果并对结果统计和分析。

具体地说，该方法包含步骤如下：

步骤1：获取所支持的工程类型，获取所支持的芯片类型；

具体地说，先获取IDE软件界面窗口中的工程类型和芯片型号。

步骤2：选择一个芯片型号和一种工程类型，新建工程；

步骤3：对工程进行编译，输出编译结果；

步骤4：获取编译结果；

步骤5：分析和统计编译结果；

步骤6：生成报告。

本发明所实现的ICNewProject自动化测试方法，通过对所有芯片型号和工程类型的记录，可以依据不同芯片类型、以及需要支持的工程类型，自动新建工程，并自动编译和查看结果。对于新增的芯片系列，也可以通过该系统实现该系列的不同工程类型的自动化测试。

同时，该方法能够提高测试效率，减少人员的投入以及减少漏测的情况。

附图说明

图1是本发明所实施获取工程类型和芯片型号的流程图。

图2是本发明所实施创建工程的流程图。

图3是本发明所实施对工程进行编译的流程图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

本发明所实现的ICNewProject自动化测试方法，通过ICNewProject自动获取所支持的工程类型、支持的芯片类型，并自动新建工程并编译工程，最后获取编译结果并对结果统计和分析。

具体地说，该方法包含步骤如下：

步骤1：获取所支持的工程类型。

参见图1所示，要实现对多种工程类型和芯片的编译测试，首先要获取所支持的工程类型，也就是说获取IDE软件界面窗口中的工程类型和芯片型号。其步骤如下：

101、启动开发工具后，开启集成开发环境，进入工程类型选择界面；

102、获取所有的工程类型；

103、进入芯片型号选择界面；

104、获取所有的芯片型号。

步骤2：选择一个芯片型号和一种工程类型，新建工程。

然后，选择芯片型号和工程类型，创建工程。具体步骤如下：

201、选择工程类型；

202、选择芯片型号；