[发明专利]辐射检查系统和辐射检查方法在审
申请号: | 201710515891.8 | 申请日: | 2017-06-29 |
公开(公告)号: | CN107228868A | 公开(公告)日: | 2017-10-03 |
发明(设计)人: | 冯志涛;胡晓伟;曹艳锋;王少锋;王彦华;闫雄;王春雷 | 申请(专利权)人: | 北京君和信达科技有限公司 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04 |
代理公司: | 北京展翼知识产权代理事务所(特殊普通合伙)11452 | 代理人: | 屠长存 |
地址: | 100088 北京市西*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 辐射 检查 系统 方法 | ||
1.一种辐射检查系统,用于对沿着检测通道限定的行进方向行进的被检测物体进行辐射检查,其中,所述被检测物体包括需检测部分和检测规避部分,该辐射检查系统包括:
辐射成像装置,设置在所述检测通道的辐射检查位置处,用于发射辐射束以对所述被检测物体进行扫描并生成辐射图像;
第一检测器,设置在所述辐射检查位置上游预定距离处的第一预设位置,用于检测所述被检测物体的检测规避部分前端到达所述第一预设位置的第一时刻t1,并发出包括所述第一时刻t1的第一检测器信号;
第二检测器,设置在所述第一预设位置下游预定距离处的第二预设位置,用于检测所述被检测物体的检测规避部分前端到达所述第二预设位置的第二时刻t2,并发出包括所述第二时刻t2的第二检测器信号;
控制单元,用于接收所述第一检测器信号和所述第二检测器信号,基于所述第一时刻t1、所述第二时刻t2以及所述第一预设位置和所述第二预设位置之间的距离,确定所述被检测物体在所述第一预设位置和所述第二预设位置之间行进的平均速度v,并在所述第二时刻t2之后经过第一时间间隔T1,发出用于控制所述辐射成像装置发射所述辐射束的指令,其中,T1=K/v-T0,K为基于所述检测规避部分的长度和所述第二预设位置确定的参数,T0为基于辐射检查系统的系统响应延迟预先设定的延迟补偿。
2.根据权利要求1所述的辐射检查系统,其中,
所述延迟补偿T0在5ms~200ms之间,并且/或者
所述K大于或等于所述检测规避部分的末端到达所述辐射检查位置时所述检测规避部分的前端与所述第二预设位置之间的距离。
3.根据权利要求1所述的辐射检查系统,其中,
响应于所述平均速度v小于预设速度,在所述第二时刻t2之后经过第一时间间隔T1所述控制单元禁止所述辐射成像装置发射所述辐射束。
4.根据权利要求1所述的辐射检查系统,其中,
所述辐射检查系统还包括第三检测器,设置在所述第二预设位置下游预定距离处的第三预设位置,用于检测所述被检测物体的检测规避部分前端是否到达所述第三预设位置,在检测到所述被检测物体的检测规避部分前端到达所述第三预设位置时,发出第三检测器信号,
响应于在所述第二时刻t2后经过第二时间间隔T2未接收到所述第三检测器信号,所述控制单元控制所述辐射成像装置禁止或停止发射所述辐射束,其中,T2=L2/V0,L2为所述第三预设位置与所述第二预设位置之间的距离,V0为预设速度。
5.根据权利要求1所述的辐射检查系统,还包括:
第四检测器,设置在所述辐射检查位置下游的预定位置处,用于以预定时间间隔检测所述被检测物体在所述第二预设位置与第四预设位置之间的行进速度,其中,所述第四预设位置位于所述第二预设位置的下游,
响应于所述第四检测器检测到的所述行进速度低于预设速度,所述控制单元控制所述辐射成像装置禁止或停止发射所述辐射束。
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