[发明专利]辐射检查系统和辐射检查方法在审

专利信息
申请号: 201710517762.2 申请日: 2017-06-29
公开(公告)号: CN107228869A 公开(公告)日: 2017-10-03
发明(设计)人: 冯志涛;曹艳锋;王少锋;胡晓伟;王彦华;闫雄;王春雷 申请(专利权)人: 北京君和信达科技有限公司
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04
代理公司: 北京展翼知识产权代理事务所(特殊普通合伙)11452 代理人: 屠长存
地址: 100088 北京市西*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 辐射 检查 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种辐射检查系统,用于对沿着检测通道限定的行进方向行进的被检测物体进行辐射检查,其中,所述被检测物体包括需检测部分和检测规避部分,该辐射检查系统包括:

辐射成像装置,设置在所述检测通道的辐射检查位置处,用于发射辐射束以对所述被检测物体进行扫描并生成辐射图像;

第一检测器,设置在距所述辐射检查位置预定距离处的第一预设位置,用于检测所述检测规避部分前端到达所述第一预设位置的第一时刻t1,并发出包括所述第一时刻t1的第一检测器信号;

第二检测器,设置在所述第一预设位置的下游,用于以预定的频率检测所述被检测物体在所述第一预设位置和第二预设位置之间行进过程中多个时刻ti的速度V(ti),并发出包括时刻ti、速度V(ti)的第二检测器信号,其中,所述第二预设位置位于所述第一预设位置的下游;以及

控制单元,用于接收所述第一检测器信号和所述第二检测器信号,基于所述第一检测器信号和所述第二检测器信号确定所述检测规避部分的当前行进距离,在根据所述当前行进距离确定所述检测规避部分末端到达或即将到达、离开或即将离开所述辐射检查位置的第二时刻t2时,发出用于控制所述辐射成像装置发射所述辐射束的指令。

2.根据权利要求1所述的辐射检查系统,其中,

所述控制单元通过公式确定所述检测规避部分的当前行进距离,满足条件的时刻ti即为所述第二时刻t2,其中,K为基于所述检测规避部分的长度和所述第一预设位置确定的参数,T0为预先设定的延迟补偿。

3.根据权利要求2所述的辐射检查系统,其中,

所述延迟补偿T0在5ms~200ms之间,并且/或者

所述K大于或等于所述规避检测部分的末端到达所述辐射检查位置时所述规避检测部分的前端与所述第一预设位置之间的距离。

4.根据权利要求1所述的辐射检查系统,其中,

响应于在所述第一时刻t1之后所述第二时刻t2之前所述第二检测器检测到所述被检测物体的速度低于预设速度,所述控制单元禁止所述辐射成像装置在所述第二时刻t2发射辐射束;并且/或者

响应于在所述第二时刻t2之后所述第二检测器检测到的所述被检测物体的速度低于预设速度,所述控制单元控制所述辐射成像装置停止发射所述辐射束。

5.根据权利要求1所述的辐射检查系统,其中,

所述控制单元还用于确定所述检测规避部分前端到达第三预设位置的第三时刻t3,满足条件的时刻ti即为所述第三时刻t3,所述第三预设位置位于所述第一预设位置和所述第二预设位置的之间,

响应于在所述第二时刻t2和所述第三时刻t3之间某个检测时刻所述第二检测器检测到的所述被检测物体的速度低于预设速度,所述控制单元控制所述辐射成像装置停止发射辐射束。

6.根据权利要求1所述的辐射检查系统,还包括:

第三检测器,设置在所述第一预设位置和所述第二预设位置之间的第三预设位置,用于检测所述检测规避部分前端到达所述第三预设位置的第三时刻t3,并发出包括所述第三时刻t3的第三检测器信号,

响应于在所述第二时刻t2和所述第三时刻t3之间某个检测时刻所述第二检测器检测到的所述被检测物体的速度低于预设速度,所述控制单元控制所述辐射成像装置停止发射辐射束。

7.根据权利要求5或6所述的辐射检查系统,其中,

所述第三预设位置与所述第一预设位置之间的距离为L,L大于K。

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