[发明专利]基于XRD优选硅质物料的方法及其应用

权利要求书

1.一种基于XRD优选硅质物料的方法，其特征在于：包括，

研磨所述的硅质物料，得到第一粉料；

采用XRD仪器对所述的第一粉料进行测试，得到所述的第一粉料的XRD数据，所述的XRD数据包括衍射峰位和峰强；

计算石英101晶面衍射峰的绝对强度与总强度的比值R；

将所述的XRD数据扣除CuK_α2衍射，去背底处理后绘图，得到所述的石英101晶面XRD衍射峰的峰位θ_X和半高宽Δθ；

将扣除CuK_α2衍射和去背底后的XRD数据进行归一化处理，计算石英的101晶面衍射峰强度积分面积A；

计算所述的硅质物料的惰性系数Ds，Ds＝R/(A*Δθ*COSθx)，

根据所述的惰性系数Ds，选择所述的硅质物料。

2.根据权利要求1所述的一种基于XRD优选硅质物料的方法，其特征在于：

所述的硅质物料中SiO₂化学成分含量不低于40％，

当生产中所用原料中包括多种硅质物料时，则混合硅质物料的惰性系数为不同硅质物料系数的复合，

当所述的混合硅质物料包括第一硅质物料和第二硅质物料时，第一硅质物料的质量百分含量为ω₁，第一硅质物料的惰性系数为Ds₁，第二硅质物料的质量百分含量为ω₂，第二硅质物料的惰性系数为Ds₂，所述的混合物料的惰性系数Ds＝ω₁*Ds₁+ω₂*Ds₂；或者，

当所述的生产中所用原料中包括第一硅质物料、第二硅质物料、……、第i硅质物料时，所述的混合硅质物料中，第一硅质物料的质量百分含量为ω₁，第一硅质物料的惰性系数为Ds₁，第二硅质物料的质量百分含量为ω₂，第二硅质物料的惰性系数为Ds₂，第i硅质物料的质量百分含量为ω_i，第二硅质物料的惰性系数为Ds_i，所述的混合硅质物料的惰性系数Ds＝ω₁*Ds₁+ω₂*Ds₂+……+ω_i*Ds_i。

3.根据权利要求1所述的一种基于XRD优选硅质物料的方法，其特征在于：

将所述的硅质物料研磨至粒径80μm的筛余小于10％。

4.根据权利要求1所述的一种基于XRD优选硅质物料的方法，其特征在于：

所述的硅质物料为砂岩、石英砂、页岩、高硅粘土、硅石、卵石、黄沙、尾矿和/或废渣。

5.根据权利要求1所述的一种基于XRD优选硅质物料的方法，其特征在于：

所述的硅质物料中的SiO₂质量百分含量大于或等于40％。

6.根据权利要求1所述的一种基于XRD优选硅质物料的方法，其特征在于：

所述的归一化处理的处理方法为，令所述的石英101晶面衍射峰强度为100，计算所述的石英的XRD面衍射峰强度积分面积A。

7.根据权利要求1所述的一种基于XRD优选硅质物料的方法，其特征在于：

所述的石英101晶面衍射峰计数点强度大于10000数据点。

8.一种硅质物料的惰性系数，其特征在于：

所述的惰性系数为权利要求1所述的惰性系数Ds。

9.一种硅质物料的惰性系数的应用，其特征在于：

根据权利要求1-7中任一项所述的基于XRD优选硅质物料的方法，得到硅质物料的惰性系数Ds，根据所述的惰性系数Ds的大小，判定所述的硅质物料是否可用于制备水泥或陶瓷，

所述的惰性系数为权利要求8所述。