[发明专利]基于XRD优选硅质物料的方法及其应用

说明书

本发明提供了一种基于XRD优选硅质物料的方法及其应用。测定方法包括，研磨硅质物料；采用XRD衍射仪对所述的物料进行测试；计算其中石英101晶面衍射峰的绝对强度与总峰强的比值R；将XRD数据扣除CuK_α2衍射，并去背底处理后绘图，得到石英101面衍射峰的峰位θ_X和半高宽Δθ，同时将XRD数据进行归一化处理，计算石英101面XRD衍射峰强度积分面积A；计算所述的硅质物料的惰性系数Ds，Ds＝R/(A*Δθ*COSθx)。本发明提供的测定方法，可用于对硅质物料的品质进行判定，有利于对物料进行合理选择。

技术领域

本发明涉及一种物料品质的判定方法，特别是涉及一种基于XRD优选硅质物料的方法及其应用。

背景技术

水泥行业作为我国主要的高能耗、高排放产业，是工业领域节能减排的重点和难点。尤其2015年以来，本行业又遭遇了严重的产能过剩和利润降低的双重压力，提质增效、降低熟料能耗势在必行。二氧化硅(SiO₂)是硅酸盐水泥生料的主要成分，属于惰性组分，硅质原料的选用对熟料烧成能耗及熟料质量具有决定性的影响。而以往的原料选用主要关注了化学成分满足配料要求，忽视了对硅质原料矿物特性的利用。近年来，天然粘土资源受到了进一步保护，水泥生产企业广泛选用各类砂岩、石英砂、尾矿、废渣等原料配料，硅质原料来源更加复杂多样。加之，我国疆域辽阔，不同地区矿产资源分布差异较大，原料种类繁多，对化学成分相近或同时合宜配料要求的硅质原料，企业在选用硅质原料时往往面临困惑。已有文献中尚未见有关硅质原料选用方法的相关记载。生产实践中，部分企业往往通过采用不同硅质原料制备熟料，进行实验的方法区分原料优劣，耗时费力。因此，迫切要求发展一种更为简便快捷的优选硅质原料的方法。

发明内容

本发明的主要目的在于，提供一种基于XRD优选硅质物料的方法及其应用，所要解决的技术问题是，利用硅质物料XRD数据，计算硅质物料的惰性系数，优选硅质原料，从而更加适于实用。

本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。

依据本发明提出的一种基于XRD优选硅质物料的方法，其特征在于：包括，研磨所述的硅质物料，得到第一粉料；采用XRD仪器对所述的第一粉料进行测试，得到所述的第一粉料中的XRD数据，所述的XRD数据包括衍射峰峰位和峰强(计数点强度)；计算石英的101晶面衍射峰,即θ＝26.64度附近衍射峰的绝对强度与其总强度的比值R；将所述的XRD数据扣除CuK_α2衍射，去背底处理后绘图，得到所述的石英的XRD衍射峰的峰位θ_X和半高宽△θ；将所述的扣除CuK_α2衍射和去背底后的XRD数据进行归一化处理，计算石英的101晶面衍射峰强度积分面积A；计算所述的硅质物料的惰性系数Ds，Ds＝R/(A*△θ*COSθx)，根据所述的惰性系数，选择所述的硅质物料。

本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。