[发明专利]一种测试双包层增益光纤泵浦吸收系数的方法

权利要求书

1.一种测试双包层增益光纤泵浦吸收系数的方法，其特征在于，其包括如下步骤：

S1、采用百瓦量级待测波长的LD泵浦光源，将LD泵浦光源尾纤与光纤合束器泵浦尾纤熔接，泵浦光通过光纤合束器耦合到高反光栅中，从高反光栅尾纤输出；将光功率计置于高反光栅输出尾纤端，调节泵浦光源输出功率逐渐增加，读取功率计示数并记录一组功率值，记为P₁；

S2、选取长度为L₀的待测双包层增益光纤，一端与高反光栅输出尾纤相熔接，另一端切平角，构成光学谐振腔；

S3、调节泵浦光源输出功率逐渐增加，读取功率计示数并记录一组功率值，记为P_2-0；

S4、在待测光纤末端放置一块对泵浦光高透对激光高反的45°双色镜，将功率计置于与光纤垂直方向，调节泵浦光源输出功率逐渐增加，读取功率计示数并记录一组功率值，记为P_3-0；

S5、保持熔点状态不变，自待测光纤另一端向高反光栅方向进行切割，每次切断长度1m，切割总次数为N，N≥6次，每次截短后的光纤长度分别为L₁、L₂......L_N，每次截短后重复步骤S3、S4，分别记为输出功率组P_2-1、P_2-2......P_2-N，和P_3-1、P_3-2......P_3-N；

S6、计算统计P_-0＝P_3-0-P_2-0，P_-1＝P_3-1-P_2-1......P_-N＝P_3-N-P_2-N分别对应光纤长度为L₀、L₁......L_N时的剩余泵浦光功率；

S7、计算统计泵浦吸收系数α(L₀)、α(L₁)......α(L_N)与对应待测双包层增益光纤长度L₀、L₁......L_N的变化规律，选择在长度范围内波动小的吸收系数值作为最终该待测光纤的泵浦吸收系数；泵浦吸收系数由下式计算获得：

2.如权利要求1所述的测试双包层增益光纤泵浦吸收系数的方法，其特征在于，

L₀≤40m。

3.如权利要求2所述的测试双包层增益光纤泵浦吸收系数的方法，其特征在于，

10m≤L₀≤30m。

4.如权利要求1所述的测试双包层增益光纤泵浦吸收系数的方法，其特征在于，

所述泵浦光源为半导体激光器，所述半导体激光器的中心波长为所述待测双包层增益光纤的待测吸收波长。

5.如权利要求1所述的测试双包层增益光纤泵浦吸收系数的方法，其特征在于，

高反光栅尾纤的纤芯直径、纤芯数值孔径、内包层外径、内包层数值孔径与所述待测双包层增益光纤的纤芯直径、纤芯数值孔径、内包层外径、内包层数值孔径对应相等。