[发明专利]阵列基板及其制备方法和显示装置在审
申请号: | 201710537516.3 | 申请日: | 2017-07-04 |
公开(公告)号: | CN107346773A | 公开(公告)日: | 2017-11-14 |
发明(设计)人: | 赵远洋 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方光电科技有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L21/77 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)11201 | 代理人: | 赵天月 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 阵列 及其 制备 方法 显示装置 | ||
1.一种阵列基板,其特征在于,包括:
阻变结构,所述阻变结构包括:
阴极,所述阴极与像素电极电连接;
阳极,所述阳极与薄膜晶体管的漏极电连接;
阻变层,所述阻变层设置于所述阴极和所述阳极之间,且与所述阴极和所述阳极电连接;
其中,当所述阳极的电压高于所述阴极的电压时,所述阻变结构呈低阻态,当所述阳极的电压低于所述阴极的电压时,所述阻变结构呈高阻态。
2.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,形成所述阴极和阳极的材料各自独立的选自Pt、Ag、Pd、W、Mo、Ti、Al、Cu、氧化铟锡、氧化铟锌、氧化钇钡铜、LaAlO3、SrRuO3和多晶硅。
3.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述阴极与所述薄膜晶体管的栅极同层设置。
4.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述漏极复用为所述阳极。
5.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,包括:
栅极;
所述阴极,所述阴极与所述栅极同层设置;
栅绝缘层,所述栅绝缘层覆盖所述栅极和所述阴极;
所述像素电极,所述像素电极设置在所述栅绝缘层远离所述阴极的一侧,且贯穿所述栅绝缘层与所述阴极电连接;
所述阻变层,所述阻变层设置在所述阴极靠近所述栅绝缘层的一侧,且嵌设在所述栅绝缘层中;
有源层,所述有源层设置在所述栅绝缘层远离所述栅极的一侧;
欧姆接触层,所述欧姆接触层设置在所述有源层远离所述栅极的一侧;
源极和所述漏极,所述源极和漏极设置在所述欧姆接触层远离所述栅极的一侧,且所述漏极与所述阻变层电连接,复用为所述阳极;
绝缘层,所述绝缘层设置在所述像素电极、栅绝缘层、漏极、有源层和源极远离所述栅极的一侧;
公共电极,所述公共电极设置在所述绝缘层远离所述阴极的一侧。
6.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,形成所述阻变层的材料包括:钙钛矿氧化物、过渡金属氧化物、固态电解质材料、有机材料、非晶硅、L-Si和Ge2Sb2+xTe5,优选非晶硅和过渡金属氧化物。
7.一种显示装置,其特征在于,包括权利要求1-6中任一项所述的阵列基板。
8.一种制备阵列基板的方法,其特征在于,包括形成阻变结构的步骤,其中,形成所述阻变结构的步骤包括:
形成阴极,所述阴极与所述像素电极电连接;
形成阻变层,所述阻变层与所述阴极电连接;
形成阳极,所述阳极与所述阻变层和薄膜晶体管的漏极电连接,
其中,当所述阳极的电压高于所述阴极的电压时,所述阻变结构呈低阻态,当阳极的电压低于所述阴极的电压时,所述阻变结构呈高阻态。
9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述阴极与所述薄膜晶体管的栅极通过一次构图工艺形成。
10.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述阻变层与所述薄膜晶体管的有源层通过一次构图工艺形成。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的