[发明专利]温度采样方法、装置及烹饪电器有效
申请号: | 201710541517.5 | 申请日: | 2017-07-03 |
公开(公告)号: | CN109211429B | 公开(公告)日: | 2020-12-22 |
发明(设计)人: | 李娟;陈伟;周升;汪钊 | 申请(专利权)人: | 佛山市顺德区美的电热电器制造有限公司 |
主分类号: | G01K7/24 | 分类号: | G01K7/24;G01K1/02;G01K3/04 |
代理公司: | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人: | 胡海国 |
地址: | 528311 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 温度 采样 方法 装置 烹饪 电器 | ||
1.一种温度采样方法,其特征在于,包括:
按照预设周期对温度进行采样,将温度参数转换为电压采样值;
获取N个电压采样值,将第N次采样值与之前(N-1)个电压采样值进行比较,判断实时电压采样值是否异常;其中N≥2且N为正整数;
在电压采样值正常时,获取M个电压采样值并求取平均值,连续求取P个平均值,将第P次求取的平均值与之前(p-1)个进行比较,判断第p次平均值是否异常;其中M≥2,P≥2,M和P均为正整数;
当第p次平均值正常时,将P个平均值再次求取平均值,作为最终采电压样值;
其中,所述将第N次采样值与之前(N-1)个电压采样值进行比较判断实时电压采样值是否异常包括:
将第N次采样值与之前的(N-1)个电压采样值的平均值进行作差,判断差值是否在预设范围内;
所述获取M个电压采样值并求取平均值,连续求取P个平均值,将第P次求取的平均值与之前(p-1)个进行比较,判断第p次平均值是否异常包括:
将第P次求取的平均值的与之前(P-1)个平均值的平均值进行作差,判断差值是否在预设范围内。
2.如权利要求1所述的温度采样方法,其特征在于,当连续采样过程中出现电压采样异常点时,抛弃个别异常点继续采样。
3.如权利要求1所述的温度采样方法,其特征在于,当第P次的平均值出现异常时,抛弃该平均值,并继续连续采样,判断采样是否持续异常。
4.如权利要求3所述的温度采样方法,其特征在于,在所述“当第P次的平均值出现异常时,抛弃该平均值,并继续连续采样,判断采样是否持续异常”之后包括:
统计平均值异常次数,则当异常次数超过预设值时发出报错信号。
5.一种温度采样装置,其特征在于,包括:
采样模块,按照预设周期对温度进行采样,将温度参数转换为电压采样值;
第一判断模块,获取N个电压采样值,将第N次电压采样值与之前(N-1)个电压采样值进行比较,判断实时电压采样值是否异常;其中N≥2且N为正整数;
第二判断模块,当电压采样值正常时,连续获取M个采样值并求取平均值,依次连续求取P个平均值,将第P次求取的平均值与之前(p-1)个平均值进行比较,判断第p次平均值是否异常;其中M≥2,P≥2,M和P均为正整数;
输出模块,在第p次平均值正常时,将所述P个平均值再次求取平均值,作为最终电压采样值输出;
所述第一判断模块将第N次采样值与之前的(N-1)个电压采样值的平均值进行作差,判断差值是否在预设范围内;
所述第二判断模块将第P个平均值的与之前(P-1)个平均值的平均值进行作差,判断差值是否在预设范围内。
6.如权利要求5所述的温度采样装置,其特征在于,在连续采样过程中出现电压采样异常点时,抛弃个别异常点继续采样。
7.如权利要求5所述的温度采样装置,其特征在于,当第P次的平均值出现异常时,抛弃该平均值,并继续连续采样,判断采样是否持续异常。
8.如权利要求7所述的温度采样装置,其特征在于,所述温度采样装置还包括报错模块,所述报错模块统计平均值异常次数,则在异常次数超过预设值时发出报错信号。
9.一种烹饪电器,其特征在于,所述烹饪电器包括如权利要求5-8任意一项所述温度采样装置。
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