[发明专利]温度采样方法、装置及烹饪电器

说明书

本发明公开一种温度采样方法、装置及烹饪电器，其中该温度采样方法包括：按照预设周期对温度进行采样，将温度参数转换为电压采样值；获取N个电压采样值，将第N次采样值与之前(N‑1)个电压采样值进行比较，判断实时电压采样值是否异常；其中N≥2且N为正整数；在电压采样值正常时，获取M个电压采样值并求取平均值，连续求取P个平均值，将第P次求取的平均值与之前(p‑1)个进行比较，判断第p次平均值是否异常；其中M≥2，P≥2，M和P均为正整数；当第p次平均值正常时，将P个平均值再次求取平均值，作为最终采电压样值。本发明技术方案提高了温度的采样精度和可靠性。

技术领域

本发明涉及家用电器领域，特别涉及一种温度采样方法、应用该方法的装置、及应用该装置的烹饪电器。

背景技术

随着人们生活水平的不断提升，对于饮食和烹饪的要求也越来越高。而烹调的口感和饮食的质量则与烹调过程中的火候和温度紧密相关，这就对烹饪电器类产品的温度采样和控制提出了更高的要求。对于烹饪电器来说，精确的温度控制是其性能的关键，而实现温度精准控制的前提则是温度采样处理的精确性。现在很多产品烹调距离消费者的对于食物口感的要求还有很大差距，这就需要我们不断的提升产品对于温度控制的精灵敏度，寻找更加精准的温度采集算法。

发明内容

本发明的主要目的是提出一种温度采样方法，旨在提高温度的采样精度和可靠性。

为实现上述目的，本发明提出的一种温度采样方法，包括：

按照预设周期对温度进行采样，将温度参数转换为电压采样值；

获取N个电压采样值，将第N次采样值与之前(N-1)个电压采样值进行比较，判断实时电压采样值是否异常；其中N≥2且N为正整数；

在电压采样值正常时，获取M个电压采样值并求取平均值，连续求取P个平均值，将第P次求取的平均值与之前(p-1)个进行比较，判断第p次平均值是否异常；其中M≥2，P≥2，M和P均为正整数；

当第p次平均值正常时，将P个平均值再次求取平均值，作为最终采电压样值。

优选地，所述将第N次采样值与之前(N-1)个电压采样值进行比较判断实时电压采样值是否异常包括：

将第N次采样值与之前的(N-1)个电压采样值的平均值进行作差，判断差值是否在预设范围内。

优选地，所述获取M个电压采样值并求取平均值，连续求取P个平均值，将第P次求取的平均值与之前(p-1)个进行比较，判断第p次平均值是否异常包括：

将第P次求取的平均值的与之前(P-1)个平均值的平均值进行作差，判断差值是否在预设范围内。

优选地，当连续采样过程中出现电压采样异常点时，抛弃个别异常点继续采样。

优选地，当第P次的平均值出现异常时，抛弃该平均值，在该时刻基础上继续连续采样，判断采样是否持续异常。

优选地，在所述“当第P次的平均值出现异常时，抛弃该平均值，在该时刻基础上继续连续采样，判断采样是否持续异常”之后包括：

统计平均值异常次数，则当异常次数超过预设值时发出报错信号。

本发明还提出一种温度采样装置，包括：

采样模块，按照预设周期对温度进行采样，将温度参数转换为电压采样值；

第一判断模块，获取N个电压采样值，将第N次电压采样值与之前(N-1)个电压采样值进行比较，判断实时电压采样值是否异常；其中N≥2且N为正整数；