[发明专利]热缩膜缺陷检测方法及终端设备在审
申请号: | 201710546113.5 | 申请日: | 2017-07-06 |
公开(公告)号: | CN107421953A | 公开(公告)日: | 2017-12-01 |
发明(设计)人: | 孔庆杰;孙旭光;陈智慧 | 申请(专利权)人: | 东莞理工学院;精锐视觉智能科技(深圳)有限公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88 |
代理公司: | 深圳中一联合知识产权代理有限公司44414 | 代理人: | 张全文 |
地址: | 523808 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 热缩膜 缺陷 检测 方法 终端设备 | ||
1.一种热缩膜缺陷检测方法,其特征在于,包括:
获取包含热缩膜的初始图像;
从所述初始图像中提取热缩膜对应区域的图像作为待测图像;
对所述待测图像进行图像形状变换;
提取经过所述图像形状变换后的待测图像的特征信息,并根据提取到的特征信息进行热缩膜缺陷检测。
2.如权利要求1所述的热缩膜缺陷检测方法,其特征在于,所述待测图像的形状为圆形,所述对所述待测图像进行图像形状变换包括:
将所述待测图像的形状由圆形变换为矩形。
3.如权利要求2所述的热缩膜缺陷检测方法,其特征在于,所述将所述待测图像的形状由圆形变换为矩形包括:
获取所述图像形状变换前的待测图像的圆心和半径,并根据获取到的圆心和半径建立极坐标系;
根据映射公式和所述极坐标系,建立所述图像形状变换前的待测图像中各像素和所述图像形状变换后的待测图像中各像素相互对应的映射表;
根据所述映射表,利用插值算法将所述待测图像的形状由圆形变换为矩形。
4.如权利要求1所述的热缩膜缺陷检测方法,其特征在于,在所述对所述待测图像进行图像形状变换之后,所述提取经过所述图像形状变换后的待测图像的特征之前,还包括:
获取经过所述图像形状变换后的待测图像中印刷字体对应区域的位置信息;
根据所述位置信息,对经过所述图像形状变换后的待测图像中印刷字体对应区域的像素进行赋值。
5.如权利要求1-4任一项所述的热缩膜缺陷检测方法,其特征在于,所述特征信息包括热缩膜对应区域的边缘特征信息和区域特征信息,所述根据提取到的特征信息进行热缩膜缺陷检测包括:
在检测到所述边缘特征信息中包含呈波谷分布的边缘的信息或者所述区域特征信息中包含有两个以上没有相互连通的区域的信息时,判定所述待测图像对应的热缩膜存在缺陷。
6.一种热缩膜缺陷检测装置,其特征在于,包括:
获取模块,用于获取包含热缩膜的初始图像;
提取模块,用于从所述初始图像中提取热缩膜对应区域的图像作为待测图像;
图像变换模块,用于对所述待测图像进行图像形状变换;
检测模块,用于提取经过所述图像形状变换后的待测图像的特征信息,并根据提取到的特征信息进行热缩膜缺陷检测。
7.如权利要求6所述的热缩膜缺陷检测装置,其特征在于,所述待测图像的形状为圆形,所述图像变换模块用于:
将所述待测图像的形状由圆形变换为矩形。
8.如权利要求6所述的热缩膜缺陷检测装置,其特征在于,所述图像变换模块用于:
获取所述图像形状变换前的待测图像的圆心和半径,并根据获取到的圆心和半径建立极坐标系;
根据映射公式和所述极坐标系,建立所述图像形状变换前的待测图像中各像素和所述图像形状变换后的待测图像中各像素相互对应的映射表;
根据所述映射表,利用插值算法将所述待测图像的形状由圆形变换为矩形。
9.一种热缩膜缺陷检测终端设备,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至5任一项所述方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至5任一项所述方法的步骤。
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