[发明专利]一种阵列基板和显示面板在审

专利信息
申请号: 201710549910.9 申请日: 2017-07-06
公开(公告)号: CN107591412A 公开(公告)日: 2018-01-16
发明(设计)人: 卓恩宗;樊堃 申请(专利权)人: 惠科股份有限公司;重庆惠科金渝光电科技有限公司
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;G02F1/1368
代理公司: 深圳市百瑞专利商标事务所(普通合伙)44240 代理人: 邢涛
地址: 518000 广东省深圳市石岩街道水田村民营*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 阵列 显示 面板
【权利要求书】:

1.一种阵列基板,其特征在于,包括:

一基板,所述基板包括多个开关组件;其中,所述开关组件包括:

栅电极,形成在所述基板上表面;

栅极绝缘层,形成在所述栅电极和基板上表面,覆盖所述栅电极;

半导体层,形成在所述栅极绝缘层上表面,且位于所述栅电极上方,所述半导体层由硅锗氧化物形成,所述半导体层形成有沟道部;

源电极,形成在所述栅极绝缘层和半导体层表面,且位于所述沟道部一侧;

漏电极,形成在所述栅极绝缘层和半导体层表面,且位于所述沟道部另一侧。

2.如权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述半导体层包括掺杂层和有源层;

所述掺杂层位于所述半导体层顶部,且被所述沟道部隔开,形成两部分,与所述漏电极相邻的部分和与所述源电极相邻的部分;

所述有源层位于所述半导体层底部,所述掺杂层位于所述有源层上表面。

3.如权利要求2所述的阵列基板,其特征在于,所述掺杂层包括第一掺杂层和第二掺杂层;

所述第二掺杂层位于所述半导体层顶部,所述第一掺杂层位于所述半导体层底部,且位于所述第二掺杂层和有源层之间;

所述第二掺杂层的掺杂浓度大于所述第一掺杂层的掺杂浓度。

4.如权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述阵列基板还包括:

保护层,形成在源电极和漏电极上表面,覆盖所述源电极和漏电极,且所述保护层位于所述沟道部上方;

导电层,形成在所述保护层上表面,且由所述沟道部隔开。

5.如权利要求4所述的阵列基板,其特征在于,所述导电层是氧化物导电体层。

6.如权利要求4所述的阵列基板,其特征在于,所述导电层是金属层。

7.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述栅极绝缘层由氮化硅形成。

8.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述栅极绝缘层是氧化物绝缘膜形成。

9.一种阵列基板,其特征在于,包括:

一基板,所述基板包括多个开关组件;其中,所述开关组件包括:

栅电极,形成在所述基板上表面;

栅极绝缘层,形成在所述栅电极和基板上表面,覆盖所述栅电极;

半导体层,形成在所述栅极绝缘层上表面,且位于所述栅电极上方,所述半导体层由硅锗氧化物形成,所述半导体层形成有沟道部;

源电极,形成在所述栅极绝缘层和半导体层表面,且位于所述沟道部一侧;

漏电极,形成在所述栅极绝缘层和半导体层表面,且位于所述沟道部另一侧;

保护层,形成在源电极和漏电极上表面,覆盖所述源电极和漏电极,且所述保护层位于所述沟道部上方;

导电层,形成在所述保护层上表面,且由所述沟道部隔开;

其中,所述半导体层包括掺杂层和有源层;所述掺杂层位于所述半导体层顶部,且被所述沟道部隔开,形成两部分,与所述漏电极相邻的部分和与所述源电极相邻的部分;所述有源层位于所述半导体层底部,所述掺杂层位于所述有源层上表面;所述掺杂层包括第一掺杂层和第二掺杂层;所述第二掺杂层位于所述半导体层顶部,所述第一掺杂层位于所述半导体层底部,且位于所述第二掺杂层和有源层之间;所述第二掺杂层的掺杂浓度大于所述第一掺杂层的掺杂浓度。

10.一种显示面板,其特征在于,包括如权利要求1-8任一所述的阵列基板;还包括:

多个像素单元,设置于阵列基板的显示区域;

控制单元,与像素单元耦合;

彩膜基板,与阵列基板相向设置。

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