[发明专利]低功耗加权伪随机LOC延迟测试方法、系统、设备及存储介质有效
申请号: | 201710565723.X | 申请日: | 2017-07-12 |
公开(公告)号: | CN107526019B | 公开(公告)日: | 2019-10-18 |
发明(设计)人: | 向东;刘博 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 王莹;曹杰 |
地址: | 100084 北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 伪随机 测试向量 存储介质 扫描森林 延迟测试 低功耗 自测试 链子 测试 加权 扫描 多路输出选择器 测试使能信号 覆盖率 测试数据 技术故障 硬件开销 增益函数 传统的 可测性 扫描链 权重 嵌入 延迟 输出 应用 | ||
1.一种低功耗加权伪随机测试方法,其特征在于,所述测试方法包括:
建立扫描森林,其中,所述扫描森林中的相移器上连接有多个多路输出选择器,且每个所述多路输出选择器均用于驱动多个扫描树,每个扫描树中均包括多个扫描链;
将由同一个多路输出选择器控制的全部扫描链均设置在相同的扫描链子集中,其中,相同的扫描链子集中的全部扫描链均由相同的时钟信号驱动;
根据可测性增益函数,分别对每个所述扫描链子集的测试使能信号进行权重赋值;
应用所述扫描森林进行伪随机测试,并输出伪随机测试向量;其中,在伪随机测试中,每个测试周期中的一个时钟信号激活一个所述扫描链子集;
以及,根据所述伪随机测试向量计算得到伪随机测试结果;
所述根据可测性增益函数,分别对每个所述扫描链子集的测试使能信号进行权重赋值,包括:
根据如公式二所示的可测性增益函数,分别对每个所述扫描链子集的测试使能信号进行权重赋值:
其中,节点l上升转换故障l/r的可检测度det(f)1根据公式二进行估算:
在公式二中,f表示节点l上升或下降的转换故障;F是随机难测故障集,且F被定义为检测概率小于或等于最强故障10倍的故障集;
其中,所述节点l上升转换故障l/r的可检测度det(l/r)根据公式三进行估算:
det(l/r)=C0(l)·C1(l')·O(l') 公式三
节点l下降转换故障l/f的可检测度det(l/f)根据公式四进行估算:
det(l/f)=C1(l)·C0(l')·O(l') 公式四
在公式三和公式四中,C1(l)、C0(l)和O(l)分别为节点l的1可控度、0可控度和可观察度;
其中,某一节点l在两帧电路模型中的第一帧的位置为l、在两帧电路模型中的第二帧中相应位置为l',节点l上升和下降转换的可检测性定位为指定输入数量来检测双帧电路中的转换故障。
2.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,在所述应用所述扫描森林进行伪随机测试测试方法之前,所述测试方法还包括:
确定所述扫描森林中的难测故障子集;
根据增益函数确定部分难测故障子集的测试点;
以及,在逻辑电路中插入所述测试点;
所述根据增益函数确定部分难测故障子集的测试点,包括:
根据如公式一所示的增益函数G确定部分难测故障子集的测试点:
在公式一中,F是部分难测故障子集,t是下降或上升的转换故障,Δ|det(t)|表示插入一个测试点时使得故障t的可检测度下降的值。
3.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,所述测试周期的数量为1000个时钟周期;
且每个测试周期均包括:移位周期、启动周期和捕获周期;
所述移位周期的数量小于或大于扫描链深度。
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