[发明专利]低功耗加权伪随机LOC延迟测试方法、系统、设备及存储介质

说明书

本发明提供了一种低功耗加权伪随机LOC延迟测试方法、系统、设备及存储介质；所述测试方法包括：建立扫描森林；将由同一个多路输出选择器控制的全部扫描链均设置在相同的扫描链子集中；根据可测性增益函数分别对每个所述扫描链子集的测试使能信号进行权重赋值；应用所述扫描森林进行伪随机测试，并输出伪随机测试向量；以及根据所述伪随机测试向量计算得到伪随机测试结果。采用本发明技术故障覆盖率高，可获得比传统的方法高出多达20％的覆盖率；硬件开销低，更不会带来额外的延迟开销、结构简单、便于工业界广泛使用，易于嵌入现有的EDA工具中，能够支持伪随机测试和确定自测试；与确定自测试结合可有效降低测试数据容量。

技术领域

本发明涉及集成电路延迟测试可测试性技术领域，具体涉及一种低功耗加权伪随机LOC延迟测试方法、系统、设备及存储介质。

背景技术

随着电路规模的增大，功能和测试功耗之间的差距变得越来越大。随着能耗的增大，芯片过热的问题也显现出来。芯片过热会导致产品寿命的缩短。现在已经提出了一些关于更准确的功耗模型。一种是低功耗芯片的外互联设计的快速模拟方法，另外一种是针对低功耗3D网络的重要的TSV建模/仿真技术的堆叠式IC设计。然后，基于扫描的自测试技术(BIST)由于随机码交换活动的增多，他们比确定的扫描测试有更大的功耗。

最近的研究方法主要是针对通过允许自动选择低功耗的伪随机测试模式来减少扫描切换的开关活动。然而，很多以前的低功耗BIST方法可能会导致一些故障覆盖丢失。因此，获取高的故障覆盖率在低功耗的BIST方案中也是非常重要的。伪随机测试模型可以有效地提高故障覆盖率。但是这些方法由于频繁对触发器的扫描，通常会导致更多的能量损耗。

此外，大部分之前的自测试方法都没有关注过低功耗的问题。

因此，找到一种有效的低功耗的BIST方法是非常必要的。

发明内容

针对现有技术中的缺陷，本发明提供一种低功耗加权伪随机LOC延迟测试方法、系统、设备及存储介质；采用本发明技术故障覆盖率高，可获得比传统的方法高出多达20％的覆盖率；硬件开销低，更不会带来额外的延迟开销、结构简单、便于工业界广泛使用，易于嵌入现有的EDA工具中，能够支持伪随机测试和确定自测试；与确定自测试结合可有效降低测试数据容量。

为解决上述技术问题，本发明提供以下技术方案：

一方面，本发明提供了一种低功耗加权伪随机LOC延迟测试方法，所述测试方法包括：

建立扫描森林，其中，所述扫描森林中的相移器上连接有多个多路输出选择器，且每个所述多路输出选择器均用于驱动多个扫描树，每个扫描树中均包括多个扫描链；

将由同一个多路输出选择器控制的全部扫描链均设置在相同的扫描链子集中，其中，相同的扫描链子集中的全部扫描链均由相同的时钟信号驱动；

根据可测性增益函数，分别对每个所述扫描链子集的测试使能信号进行权重赋值；

应用所述扫描森林进行伪随机测试，并输出伪随机测试向量；其中，在伪随机测试中，每个测试周期中的一个时钟信号激活一个所述扫描链子集；

以及，根据所述伪随机测试向量计算得到伪随机测试结果。

进一步地，在所述应用所述扫描森林进行伪随机测试测试方法之前，所述测试方法还包括：

确定所述扫描森林中的难测故障子集；

根据增益函数确定部分难测故障子集的测试点；

以及，在逻辑电路中插入所述测试点。

进一步地，所述根据增益函数确定部分难测故障子集的测试点，包括：

根据如公式一所示的增益函数G确定部分难测故障子集的测试点：