[发明专利]一种垂直结构AlGaInP基发光二极管及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201710573839.8 申请日: 2017-07-14
公开(公告)号: CN107240628B 公开(公告)日: 2019-05-24
发明(设计)人: 李波;杨凯;徐洲;张双翔;石峰 申请(专利权)人: 扬州乾照光电有限公司
主分类号: H01L33/20 分类号: H01L33/20;H01L33/22;H01L33/00
代理公司: 扬州市锦江专利事务所 32106 代理人: 江平
地址: 225009 江苏*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 垂直 结构 algainp 发光二极管 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种垂直结构AlGaInP基发光二极管的制造方法,包括以下步骤:

1)在衬底的同一侧依次外延生长形成DBR层、N限制层、有源层、P限制层、电流扩展层、粗化层、欧姆接触层,取得外延片;外延取得的粗化层的厚度为3~10μm;

2)以外延片进行清洗、制干后,在外延片的欧姆接触层表面生长形 SiO2材料层;

3)在SiO2材料层上通过涂胶、光刻、显影制作出光刻胶图形;

4)将外延片经过BOE蚀刻,得到供蚀刻的图形化粗化面区域;

5)对图形化粗化面区域采用湿法或干法腐蚀的方法,自SiO2材料层向下腐蚀至粗化层;

6)将处延片置于粗化液中进行腐蚀处理;

7)去除图形化粗化面区域以外的欧姆接触层上剩余的SiO2材料层后,在欧姆接触层上制作形成正电极;

8)对衬底进行减薄研磨,然后在衬底的背面制作背电极;

9)经裂片,得垂直结构AlGaInP基发光二极管;

其特征在于:

所述步骤5)中,在图形化粗化面区域内蚀刻出若干沟槽,且各沟槽的最大深度不大于粗化层的厚度;所述沟槽具有n个分层结构,n≥1,且沟槽的分层结构呈现台阶形貌。

2.根据权利要求1所述垂直结构AlGaInP基发光二极管的制造方法,其特征在于:经过步骤5)腐蚀后,在各剩余的SiO2材料层外周形成环绕分布的沟槽。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于扬州乾照光电有限公司,未经扬州乾照光电有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710573839.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top