[发明专利]溅射环件用凸结体滚花方法在审
申请号: | 201710590215.7 | 申请日: | 2017-07-19 |
公开(公告)号: | CN109277771A | 公开(公告)日: | 2019-01-29 |
发明(设计)人: | 姚力军;潘杰;相原俊夫;王学泽;罗明浩;冯周瑜 | 申请(专利权)人: | 宁波江丰电子材料股份有限公司 |
主分类号: | B23P9/02 | 分类号: | B23P9/02 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 吴敏 |
地址: | 315400 浙江省宁波*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 结体 滚花 颗粒物 环件 溅射 剥落现象 表面吸附 喷砂处理 粗糙度 | ||
一种溅射环件用凸结体滚花方法,包括:提供凸结体;对所述凸结体的表面进行滚花。相较于现有技术中的喷砂处理,滚花操作能够使所述凸结体表面获得更高的粗糙度,增强凸结体表面吸附颗粒物的能力,避免发生颗粒物剥落现象。
技术领域
本发明涉及半导体制造技术领域,具体涉及一种溅射环件用凸结体滚花方法。
背景技术
溅射环件在磁控溅射中,可产生电磁场,能够对溅射出的靶材原子的运动进行约束,另外溅射环件还可以吸附溅射过程中出现的颗粒物。溅射环件由环体和凸结体构成,环体通过凸结体连接于溅射基台,凸结体主要起到固定和引入电流的作用。在溅射过程中,溅射环件吸附的颗粒物主要分布在环体表面,但在凸结体表面也会吸附有部分颗粒物。凸结体的表面一般采用喷砂处理,喷砂导致凸结体表面的粗糙度有限,从而造成凸结体表面吸附颗粒物的能力有限,容易发生颗粒物剥落现象,颗粒物剥落不仅会影响溅射环境,而且一旦掉落在溅射表面上,容易导致产品产生缺陷,甚至产品报废。
发明内容
本发明解决的问题是采用喷砂处理的凸结体表面粗糙度有限,从而造成凸结体表面吸附颗粒物的能力有限,容易发生颗粒物剥落现象。
为解决上述问题,本发明提供一种溅射环件用凸结体滚花方法,包括:提供凸结体;对所述凸结体的表面进行滚花。
可选的,所述凸结体呈圆柱状。
可选的,所述溅射环件用凸结体滚花方法还包括:提供台阶,所述台阶为圆柱状或棱柱状,所述台阶的一底面与所述凸结体的一底面固定连接。
可选的,所述固定连接方式采用一体冲压成型。
可选的,所述台阶的中心轴线与所述凸结体的中心轴线重合。
可选的,所述台阶的底面面积等于或大于所述凸结体的底面面积。
可选的,所述溅射环件用凸结体滚花方法还包括:提供车床,所述车床具有卡盘和滚花刀。
可选的,滚花过程中,所述卡盘夹持所述台阶,并带动所述台阶及所述凸结体旋转;同时,所述滚花刀强力挤压所述凸结体的表面,并沿所述凸结体高度方向移动,从而形成滚花花纹。
可选的,所述台阶的高度等于或大于所述凸结体的高度。
可选的,滚花结束后,切削所述台阶。
可选的,切削所述台阶至高度为所述凸结体高度的4~6%。
可选的,采用电火花线切割方法切削所述台阶。
可选的,所述滚花刀为双轮滚花刀,所述滚花花纹为凸菱形花纹。
可选的,所述凸菱形花纹的TPI值在25以上。
与现有技术相比,本发明的技术方案具有以下优点:
对所述凸结体的表面进行滚花,相较于现有技术中的喷砂处理,滚花操作能够使所述凸结体表面获得更高的粗糙度,增强凸结体表面吸附颗粒物的能力,避免发生颗粒物剥落现象。
进一步,所述台阶的高度等于或大于所述凸结体的高度,因此所述卡盘能够较为牢稳的夹持住所述台阶,防止所述台阶的晃动会影响到所述凸结体表面的滚花效果,造成花纹深浅差别较大。
进一步,滚花结束后,切削所述台阶,一方面,避免所述台阶表面有颗粒物附着;另一方面保留所述台阶以便将所述凸结体与环体焊接在一起。
附图说明
图1是本发明实施例公开的凸结体及台阶的结构示意图;
图2是本发明实施例公开的双轮滚花刀的结构示意图;
图3是本发明实施例公开的滚花操作的示意图;
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