[发明专利]一种医用检测基板、医用检测芯片及医用检测系统有效
申请号: | 201710595582.6 | 申请日: | 2017-07-20 |
公开(公告)号: | CN109283231B | 公开(公告)日: | 2020-05-01 |
发明(设计)人: | 谢振宇;郝震宇;高悦凯;毛利军;李田生 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方光电科技有限公司 |
主分类号: | G01N27/26 | 分类号: | G01N27/26 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 郭润湘 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 医用 检测 芯片 系统 | ||
本发明公开了一种医用检测基板、医用检测芯片及医用检测系统,该医用检测基板包括:衬底,以及位于衬底上的检测单元;其中,检测单元包括两组测试电极;两组测试电极通过绝缘的堤部间隔开,两组测试电极分别设置在堤部围成的凹部中。因此,通过绝缘的堤部将两组测试电极绝缘隔开,有效避免了两组测试电极之间产生横向干扰电场,从而有效提高了医用检测基板的检测精确度和灵敏度,为疾病的诊断提供了可靠的依据。
技术领域
本发明涉及医学检测技术领域,尤指一种医用检测基板、医用检测芯片及医用检测系统。
背景技术
近年来,基因检测随着基因测序市场的蓬勃发展而逐渐发展起来,其基因检测的费用也有了大幅度的降低,但是,对于测试人体的全基因组成本还是让人难以接受,同时针对一些主要的疾病的检测普及度还比较低,所以目前市场上急需一种对人体主流疾病的基因检测,例如一些主流癌症的检测就显得尤为重要;其中,液体活检芯片就是新兴发展的一种技术,它无需检测全基因组来诊断疾病,而是直接采集人体的部分体液就可以完成检测,不仅可以使受检测者免于痛苦,还无需支付昂贵的检测费用,使得疾病检测变得简单和快速。
现有的液体活检芯片的剖视图如图1所示,检测单元1(虚线框内)和数据线(图中未示出)均位于衬底2之上,每个检测单元1包括两组测试电极,且每组测试电极均包括多个子测试电极,如A表示第一组测试电极中的子测试电极,B表示第二组测试电极中的子测试电极;在测试单元1内的各子测试电极之上依次制作有导电层3、DNA靶向材料基底4和DNA配对靶5,在将测试单元1进行封装之后得到活体检测芯片。在实际的应用过程中,需要将待检测液体灌入至封装好的检测单元1中,通过待检测液体中的靶向DNA与DNA配对靶进行配对后,释放离子,使得待检测液体由绝缘态变成导电态,从而在两组测试电极之间产生电流,通过检测电流的大小来判断疾病的类型。
然而,由于A和B处于同一平面内,如图1所示,在A与B的表面不仅存在着弯曲干扰电场(如弯曲虚线箭头所示),还存在着横向干扰电场(如横向虚线箭头所示),两种干扰电场会对待检测液体中离子的流动产生影响,进而影响两组测试电极之间的电流大小,影响检测结果;但由于A和B之间的距离较小,使得A和B之间的横向干扰电场要远大于弯曲干扰电场,即横向干扰电场对待检测液体中离子流动产生的干扰要远大于弯曲干扰电场对待检测液体中离子流动产生的干扰,因此,避免A和B之间产生横向干扰电场便成了提高检测精确度的关键。
通常,采用将A和B的厚度减薄的方式消除横向干扰电场,但因A和B处于同一平面内,通过减薄的方式是无法彻底地消除横向干扰电场的。基于此,如何有效地消除A和B之间的横向干扰电场,提高疾病检测的精确度和灵敏度,是本领域技术人员亟待解决的技术问题。
发明内容
本发明实施例提供了一种医用检测基板、医用检测芯片及医用检测系统,用以解决现有技术中提高疾病检测的精确度和灵敏度的问题。
本发明实施例提供了一种医用检测基板,包括:衬底,以及位于所述衬底上的检测单元;其中,
所述检测单元包括两组测试电极;
两组所述测试电极通过绝缘的堤部间隔开,两组所述测试电极分别设置在所述堤部围成的凹部中。
在一种可能的实施方式中,在本发明实施例提供的上述医用检测基板中,各所述凹部设置于所述衬底内。
在一种可能的实施方式中,在本发明实施例提供的上述医用检测基板中,还包括:设置于所述衬底与所述检测单元之间的绝缘层;各所述凹部设置于所述绝缘层内。
在一种可能的实施方式中,在本发明实施例提供的上述医用检测基板中,所述测试电极包括多个串联的子测试电极;
各所述子测试电极均设置于所述凹部内。
在一种可能的实施方式中,在本发明实施例提供的上述医用检测基板中,所述凹部与所述测试电极一一对应;或,所述凹部与所述子测试电极一一对应。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于京东方科技集团股份有限公司;北京京东方光电科技有限公司,未经京东方科技集团股份有限公司;北京京东方光电科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710595582.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种平面阵列电容成像方法及系统
- 下一篇:模块化测量系统